Ст 107 ск рф ч 2: СК РФ Статья 107. Сроки обращения за алиментами / КонсультантПлюс

Содержание

Ст. 107 СК РФ с Комментариями 2020-2021 года (новая редакция с последними изменениями)

1. Лицо, имеющее право на получение алиментов, вправе обратиться в суд с заявлением о взыскании алиментов независимо от срока, истекшего с момента возникновения права на алименты, если алименты не выплачивались ранее по соглашению об уплате алиментов.

2. Алименты присуждаются с момента обращения в суд.

Алименты за прошедший период могут быть взысканы в пределах трехлетнего срока с момента обращения в суд, если судом установлено, что до обращения в суд принимались меры к получению средств на содержание, но алименты не были получены вследствие уклонения лица, обязанного уплачивать алименты, от их уплаты.

Комментарий к Ст. 107 СК РФ

1. Сроки исковой давности не распространяются на алиментные правоотношения. Законодатель устанавливает срок, в пределах которого могут быть взысканы алименты за прошедший период при наличии следующих условий:

Бесплатная юридическая консультация по телефонам:

— алименты не выплачивались;

— судом установлено, что до обращения в суд принимались меры к получению средств на содержание;

— алименты не были получены вследствие уклонения лица, обязанного уплачивать алименты, от их уплаты.

В качестве доказательств могут быть использованы документы из органов внутренних дел, свидетельствующие об обращении алиментополучателя с заявлением о розыске алиментоплательщика, о возбуждении уголовного дела о злостном уклонении от уплаты алиментов и др.

Право на получение алиментов прекращается с момента отпадения обстоятельств, являющихся основанием для получения алиментов (например, достижение ребенком возраста 18 лет, восстановление трудоспособности и т.д.).

2. Комментируемая статья устанавливает, что алименты присуждаются с момента обращения в суд. В п. 8 Постановления Пленума Верховного Суда РФ от 25 октября 1996 г. N 9 «О применении судами Семейного кодекса Российской Федерации при рассмотрении дел об установлении отцовства и о взыскании алиментов» разъяснено, что если одновременно с иском об установлении отцовства предъявлено требование о взыскании алиментов, то в случае удовлетворения иска об установлении отцовства алименты присуждаются со дня предъявления иска, как и по всем делам о взыскании алиментов (п. 2 комментируемой статьи). Вместе с тем необходимо учитывать, что возможность принудительного взыскания средств на содержание ребенка за прошлое время в указанном случае исключается, поскольку до удовлетворения иска об установлении отцовства ответчик в установленном порядке не был признан отцом ребенка.

3. В соответствии со ст. 211 ГПК РФ судебный приказ или решение суда о взыскании алиментов подлежит немедленному исполнению. В дальнейшем если решение будет отменено, то поворот исполнения решения будет возможен лишь в том случае, если решение суда было основано на сообщенных истцом ложных сведениях или представленных им подложных документах (ч. 3 ст. 445 ГПК).

Статья 107 Семейного кодекса РФ

Статья 107 СК РФ. Сроки обращения за алиментами

1. Лицо, имеющее право на получение алиментов, вправе обратиться в суд с заявлением о взыскании алиментов независимо от срока, истекшего с момента возникновения права на алименты, если алименты не выплачивались ранее по соглашению об уплате алиментов.

2. Алименты присуждаются с момента обращения в суд.

Алименты за прошедший период могут быть взысканы в пределах трехлетнего срока с момента обращения в суд, если судом установлено, что до обращения в суд принимались меры к получению средств на содержание, но алименты не были получены вследствие уклонения лица, обязанного уплачивать алименты, от их уплаты.


Вернуться к оглавлению документа: Семейный кодекс РФ в действующей редакции

Комментарии к статье 107 СК РФ, судебная практика применения

Разъяснения Пленума Верховного Суда РФ 2017 года:

В Постановлении Пленума Верховного Суда РФ от 26.12.2017 N 56 «О применении судами законодательства при рассмотрении дел, связанных со взысканием алиментов» содержатся следующие разъяснения:

Основания для взыскания алиментов за последние 3 года

По общему правилу, установленному пунктом 2 статьи 107 СК РФ, алименты присуждаются с момента обращения в суд.

Суд вправе удовлетворить требование о взыскании алиментов за прошедший период в пределах трехлетнего срока с момента обращения в суд, если в ходе судебного разбирательства будет установлено, что до обращения в суд принимались меры к получению алиментов, однако они не были получены вследствие уклонения лица, обязанного уплачивать алименты, от их уплаты (абзац второй пункта 2 статьи 107 СК РФ).

О мерах, принятых в целях получения алиментов, могут свидетельствовать, в частности, обращение истца к ответчику (например, посредством направления телеграмм, заказных писем с уведомлением либо посредством электронной почты) с требованием об уплате алиментов либо с предложением заключить соглашение об уплате алиментов, обращение к мировому судье с заявлением о выдаче судебного приказа о взыскании алиментов на несовершеннолетнего ребенка (если впоследствии судебный приказ был отменен).

(См. подробнее п. 11 Постановления)

С какого момента могут быть взысканы алименты при установлении судом отцовства?

Если требование о взыскании алиментов предъявлено одновременно с иском об установлении отцовства или материнства, в случае удовлетворения иска об установлении отцовства или материнства алименты присуждаются со дня предъявления иска. Вместе с тем необходимо учитывать, что предусмотренная абзацем вторым пункта 2 статьи 107 СК РФ возможность принудительного взыскания средств на содержание ребенка за прошлое время в указанном случае исключается, поскольку до удовлетворения иска об установлении отцовства или материнства ответчик в установленном порядке не был признан отцом (матерью) ребенка.

При удовлетворении требований об установлении отцовства (материнства) и взыскании алиментов, рассмотренных одновременно, следует иметь в виду, что решение в части взыскания алиментов в силу абзаца второго статьи 211 ГПК РФ подлежит немедленному исполнению.

(См. подробнее п. 31 Постановления)

Публикации на logos-pravo.ru:

Некоторые примеры из судебной практики см. в статье «Сроки обращения за алиментами»


Разъяснения утратившего силу Постановления Пленума Верховного Суда РФ:

Ранее, в Постановлении Пленума Верховного Суда РФ от 25.10.1996 N 9 «О применении судами Семейного кодекса Российской Федерации при рассмотрении дел об установлении отцовства и о взыскании алиментов», ныне утратившем силу, указывалось следующее:

Взыскание алиментов при установлении отцовства за прошлое время. Немедленное исполнение

«Если одновременно с иском об установлении отцовства предъявлено требование о взыскании алиментов, в случае удовлетворения иска об установлении отцовства алименты присуждаются со дня предъявления иска, как и по всем делам о взыскании алиментов (п. 2 ст. 107 СК РФ). Вместе с тем необходимо учитывать, что возможность принудительного взыскания средств на содержание ребенка за прошлое время в указанном случае исключается, поскольку до удовлетворения иска об установлении отцовства ответчик в установленном порядке не был признан отцом ребенка.

При удовлетворении требований об установлении отцовства и взыскании алиментов, рассмотренных одновременно, необходимо иметь в виду, что решение в части взыскания алиментов в силу абзаца второго ст. 211 ГПК РФ подлежит немедленному исполнению».

Статья 107 СК РФ и комментарии к ней

1. Лицо, имеющее право на получение алиментов, вправе обратиться в суд с заявлением о взыскании алиментов независимо от срока, истекшего с момента возникновения права на алименты, если алименты не выплачивались ранее по соглашению об уплате алиментов.

2. Алименты присуждаются с момента обращения в суд.Алименты за прошедший период могут быть взысканы в пределах трехлетнего срока с момента обращения в суд, если судом установлено, что до обращения в суд принимались меры к получению средств на содержание, но алименты не были получены вследствие уклонения лица, обязанного уплачивать алименты, от их уплаты.

Комментарий к статье 107 СК РФ

1. Согласно ст. 9 СК РФ, на требования, вытекающие из семейных отношений, исковая давность не распространяется, за исключением случаев, если срок для защиты нарушенного права установлен в Кодексе. Это, как справедливо отмечает Л.М. Пчелинцева, связано с тем, что в семейном праве преобладают личные неимущественные права, имеющие длящийся характер, природа которых может потребовать их защиты в любое время <1>. В комментируемой статье также указывается на то, что исковая давность на алиментные обязательства не распространяется. Лица, имеющие право на получение алиментов, могут обратиться в суд с заявлением о взыскании алиментов в любое время, пока существует право на алименты, за исключением случая, если ранее алименты уплачивались по соглашению об уплате алиментов.

———————————
<1> Пчелинцева Л.М. Комментарий к Семейному кодексу РФ. М., 2006. С. 51.

2. По общему правилу алименты уплачиваются с момента обращения управомоченного лица в суд, т.е. со дня подачи искового заявления (заявления о выдаче судебного приказа) в суд.

Суд вправе взыскать алименты и за предшествующий период, если будет установлено, что, во-первых, принимались меры к получению средств на содержание (неоднократные обращения, попытка договориться, установление местонахождения и (или) места работы, розыск), во-вторых, обязанное лицо уклонялось от их уплаты (сокрытие своего местонахождения и (или) доходов, отказ заключить соглашение, затягивание выплат и др.). Однако алименты могут быть взысканы лишь в пределах трехлетнего срока, предшествовавшего моменту обращения в суд. Взыскание алиментов, независимо от причин их неполучения, за пределами этого срока невозможно, так как установленный трехгодичный срок является пресекательным.

Следует отметить, что взыскание алиментов за прошедший период не может быть применено, если требование о взыскании алиментов предъявлено одновременно с иском об установлении отцовства. В случае удовлетворения иска об установлении отцовства алименты присуждаются со дня предъявления иска. Это связано с тем, что возможность принудительного взыскания средств на содержание ребенка за прошлое время в указанном случае исключается, поскольку до удовлетворения иска об установлении отцовства ответчик в установленном порядке не был признан отцом ребенка (п. 8 Постановления Пленума Верховного Суда РФ от 25 октября 1996 г. N 9).

Решение в части взыскания алиментов при удовлетворении требований об установлении отцовства и взыскании алиментов, рассмотренных одновременно, подлежит немедленному исполнению (ст. 211 ГПК РФ).

Другой комментарий к статье 107 Семейного Кодекса РФ

1. Сроки исковой давности не распространяются на алиментные правоотношения. Законодатель устанавливает срок, в пределах которого могут быть взысканы алименты за прошедший период при наличии следующих условий:

— алименты не выплачивались;

— судом установлено, что до обращения в суд принимались меры к получению средств на содержание;

— алименты не были получены вследствие уклонения лица, обязанного уплачивать алименты, от их уплаты.

В качестве доказательств могут быть использованы документы из органов внутренних дел, свидетельствующие об обращении алиментополучателя с заявлением о розыске алиментоплательщика, о возбуждении уголовного дела о злостном уклонении от уплаты алиментов и др.

Право на получение алиментов прекращается с момента отпадения обстоятельств, являющихся основанием для получения алиментов (например, достижение ребенком возраста 18 лет, восстановление трудоспособности и т.д.).

2. Комментируемая статья устанавливает, что алименты присуждаются с момента обращения в суд. В п. 8 Постановления Пленума Верховного Суда РФ от 25 октября 1996 г. N 9 «О применении судами Семейного кодекса Российской Федерации при рассмотрении дел об установлении отцовства и о взыскании алиментов» разъяснено, что если одновременно с иском об установлении отцовства предъявлено требование о взыскании алиментов, то в случае удовлетворения иска об установлении отцовства алименты присуждаются со дня предъявления иска, как и по всем делам о взыскании алиментов (п. 2 комментируемой статьи). Вместе с тем необходимо учитывать, что возможность принудительного взыскания средств на содержание ребенка за прошлое время в указанном случае исключается, поскольку до удовлетворения иска об установлении отцовства ответчик в установленном порядке не был признан отцом ребенка.

3. В соответствии со ст. 211 ГПК РФ судебный приказ или решение суда о взыскании алиментов подлежит немедленному исполнению. В дальнейшем если решение будет отменено, то поворот исполнения решения будет возможен лишь в том случае, если решение суда было основано на сообщенных истцом ложных сведениях или представленных им подложных документах (ч. 3 ст. 445 ГПК).

Ст. 107 СК РФ. Сроки взыскания алиментов. Комментарии

Ст. 107 СК РФ посвящена срокам взыскания алиментов согласно семейному законодательству. Несмотря на несколько предложений, из которых она состоит, ее применение связано с многочисленными нюансами. Частично это связано с субъектами обращения (например, в случае с детьми, достигшими 18 лет).

Закон о сроках давности

В отличие от гражданского законодательства, семейное значительно ограничивает применение положений о сроках давности. Да и в обсуждаемой статье, затрагивающей алименты, применяется иная формулировка. Более применим термин «пресекательный срок», отличающийся невозможностью их восстановления или продления.

Кто имеет право потребовать

Ст. 107 СК РФ ссылается на любое лицо, имеющее право взыскания. В первую очередь на ум приходят дети, но ими перечень не ограничивается. Закон предоставляет право требовать в суде алименты независимо от того, сколько времени прошло с момента появления такого права.

В то же время оно прекращается с момента достижения ребенком 18 лет (совершеннолетия). Исключение — случаи, когда ребенок продолжает обучение либо, в силу болезни, нуждается в дополнительной помощи.

Закон, говоря о болезни, подразумевает недуги, приводящие к инвалидности. Их влияние таково, что пенсии и государственной помощи не хватает.

После наступления совершеннолетия право поднять вопрос о долге имеет ребенок. Об этом расскажем ниже.

Выполнение судебного акта

Обратимся к п. 2 ст. 107 СК РФ. Согласно его положениям, выплаты назначаются с даты, когда суд принял решение. Здесь нельзя путать его с днем вступления его в силу. ГПК дает на это месячный срок.

Закон дает право немедленно выдать исполнительный лист по заявлению истца и обратить его к исполнению, не дожидаясь истечения срока обжалования и времени, отведенного на иные процедуры.

За какой период производится взыскание

Ст. 107 СК РФ разрешает предъявить иск или подать заявление о выдаче приказа за трехлетний период перед обращением к судье. Например, канцелярия суда зарегистрировала заявление 01.01.2010 года. В таком случае предельный срок взыскания — 01.01.2007 года.

Суд принимает решение о взыскании, если ранее истец принимал меры к получению алиментов, а ответчик при этом уклонялся.

В перечень доказательств уклонения включаются письма, сообщения, отправленные с помощью почтовых сервисов, мобильной связи. Попытка получить судебный приказ, который был отменен по заявлению должника, согласно разъяснениям, относится туда же.

У заявителя есть право взыскать еще и неустойку. Она рассчитывается приставом, ведущим дело. Выносится постановление, в котором расписывается сумма долга и схема начисления неустойки. Ее взыскание проводится в судебном порядке. Фактически заявителю полагается получить еще один судебный приказ.

В судебной практике имеют место заявления о взыскании задолженности по ранее вынесенным судебным актам. На подобные случаи положения ч. 2 ст. 107 СК РФ не распространяются.

Если имела место фактическая выплата алиментов

Родитель не всегда выплачивает алименты с принуждением, многие выполняют свою обязанность добровольно. Случается так, что никаких документов не остается, и бывшая супруга (чаще всего) подает документы на взыскание. О ранее выплаченных деньгах ничто не свидетельствует. Единственное, что остается делать ответчику — предоставить квитанции с почты или выписки из банков, подтверждающие факт почтовых переводов.

Несмотря на отсутствие назначения платежа, систематические выплаты принимаются судом в расчет в качестве алиментов. Утеря документов лишает шанса защититься в подобной ситуации. Примерно так выглядит судебная практика по ст. 107 СК РФ.

Значение соглашения между родителями

Родители вправе договориться между собой о сумме алиментов, оформив договоренность у нотариуса.

Единственное условие: размер выплат в пользу детей не должен быть меньше минимума, установленного законом. Остается право увеличить их.

Если же родитель, обязанный платить, уклоняется от выполнения соглашения, второй родитель вправе обратиться к судебным приставам.

В каком размере производится взыскание

Ст. 107 СК РФ ничего не говорит о размере взыскиваемых алиментов. Закон предоставляет судье на выбор способы взыскания:

  • в долях;
  • в твердой денежной сумме;
  • в обеих формах одновременно.

Судье нельзя упускать из виду материальное положение сторон, например наличие других детей, нового супруга (супруги), иных факторов, влияющих на материальное положение сторон. Со дня возникновения долга оно способно серьезно измениться.

Право ребенка

Совершеннолетие дает право ребенку лично требовать помощи от родителя. Согласно ст. 107 СК РФ с комментариями, такое допускается при следующих условиях:

  • долг возник в период до даты достижения совершеннолетия;
  • долг образовался по вине родителя;
  • право требования передается исключительно ребенку.

Если никаких заявлений ранее в суд вторым родителем не отправлялось, суд вынесет решение о взыскании не более чем за 3-летний период перед обращением.

В заключение

Содержать ребенка — обязанность родителя, которую он должен выполнять, независимо от обстоятельств.

Если по каким-то причинам заявление в суд об алиментах подается достаточно поздно, судья вправе взыскать долг за 3 года при условии принятия истцом мер (письма, попытки получения судебного приказа и т. д.) до этого.

Если же ранее уже было открыто исполнительное производство, никаких ограничительных сроков не вводится.

Надо отметить, что каждой ситуации свойственны особенности, без учета которых нельзя добиться положительного решения суда.

Ст 113 СК РФ с комментариями и изменениями на 2020-2021 год

Большая задолженность по алиментам может существенно ухудшить положение их получателя.

Прежде всего взыскание задолженности по алиментам следует отличать от взыскания алиментов за прошедший период. Задолженность образуется в случаях, когда сторонами было заключено соглашение об уплате алиментов или судом было вынесено решение о взыскании алиментов, но фактически уплата алиментов по этим документам не производилась. Взыскание алиментов за прошедший период имеет место, когда лицо имело право на алименты в соответствии с гл. 13, 14 или 15 СК, но сторонами не заключалось соглашение об уплате алиментов, и лицо, имеющее право на них, не обращалось в суд с иском о взыскании алиментов.

Следовательно, при взыскании задолженности речь идет о выплате сумм, подлежащих уплате на основании соглашения сторон или судебного решения, а при взыскании алиментов за прошедший период в соответствии с ч. 2 п. 2 ст. 107 СК — о выплате сумм за период, предшествующий обращению в суд.

Задолженность может возникнуть в силу различных причин. Она может образоваться как в результате виновных действий должника — уклонения от уплаты алиментов, так и по вине получателя алиментов, например, в случае непредъявления исполнительного листа или нотариально удостоверенного соглашения ко взысканию, несообщения о перемене своего места жительства, отказа от получения алиментов и т.д.

Не исключено образование задолженности и по не зависящим от сторон обстоятельствам: из-за болезни плательщика, отсутствия у него средств для уплаты алиментов, неплатежеспособности предприятия, где работает должник, задержки выплаты заработной платы, нахождения одной из сторон на территории, где объявлено военное или чрезвычайное положение, на территории военных действий и т.д. Погашение задолженности может поставить лицо, уплачивающее алименты, в весьма затруднительное положение, поэтому срок, в пределах которого задолженность подлежит погашению, ограничивается тремя годами, непосредственно предшествующими предъявлению исполнительного листа или нотариально удостоверенного соглашения ко взысканию.

Задолженность, возникшая по вине должника, взыскивается за весь период, в течение которого алименты не уплачивались, независимо от трехлетнего срока.

Действующее законодательство допускает взыскание в любых случаях, когда задолженность образовалась по вине должника, независимо от того, объявлялся его розыск или нет. Виновное поведение должника, приведшее к образованию задолженности, может выразиться также в сокрытии им своих доходов или иного имущества, несообщении об изменении места работы или жительства и других действиях, препятствующих взысканию алиментов. Возмещение лицом, обязанным уплачивать алименты, образовавшейся задолженности не освобождает его от уплаты неустойки и возмещения убытков, предусмотренных ст. 115 СК.

Размер задолженности определяется судебным исполнителем путем умножения размера алиментов, взысканных в твердой денежной сумме, на число периодов, в течение которых алименты подлежали выплате, но фактически не выплачивались.

Задолженность по выплате алиментов на несовершеннолетних детей их родителями определяется следующим образом. Судебный исполнитель должен получить сведения о заработной плате и иных доходах плательщика алиментов в течение этого периода и на основании этих данных вычислить размер алиментов, подлежащих уплате в период образования задолженности. Непредставление судебному исполнителю по его требованию документов, подтверждающих заработок или доход, рассматривается как уклонение от уплаты алиментов.

Исходя из величины средней заработной платы в РФ на момент образования задолженности в случае, если должник в период образования задолженности не работал или не представлены документы, подтверждающие его заработок или иной доход, взыскание призвано обеспечить защиту как получателя, так и плательщика алиментов.

В разных регионах РФ уровень доходов населения сильно различается, в связи с чем взыскание алиментов исходя из средней заработной платы в местности, в которой проживает родитель, уплачивающий алименты, или в местности, в которой проживает ребенок, привело бы к нарушению интересов или родителя, или ребенка. Использование среднего уровня заработной платы в РФ призвано сгладить существующие региональные различия.

Если же родитель, уплачивающий алименты, в период образования задолженности не работал по уважительной причине и в связи с этим не получал доходов, определение задолженности исходя из средней заработной платы в РФ может существенно нарушить его права. Если же, напротив, имеются доказательства, что уровень его доходов значительно превышал среднюю заработную плату в РФ, но собрать документы, подтверждающие его ежемесячные доходы, не удается, определение задолженности таким способом не отвечает интересам ребенка. В подобных ситуациях любая из сторон вправе обратиться в суд с иском об определении задолженности в твердой денежной сумме. Суд с учетом всех конкретных обстоятельств дела определяет задолженность исходя из материального и семейного положения сторон и других заслуживающих внимания обстоятельств.

В соответствии с Федеральным законом от 19 мая 1995 г. N 81-ФЗ «О государственных пособиях гражданам, имеющим детей» размер ежемесячного пособия на ребенка, родители которого уклоняются от уплаты алиментов, увеличивается на 50%. При взыскании задолженности с родителей, уклоняющихся от уплаты алиментов, суммы, выплаченные ребенку в период, когда алименты не выплачивались, в размере 50% пособия, вычитаются из размера задолженности и не выплачиваются взыскателю.

Данная мера призвана компенсировать затраты бюджета на выплату пособия на ребенка в увеличенном размере и стимулировать плательщика к своевременной уплате алиментов взыскателю. Взыскатель не может получить указанную сумму дважды: один раз в виде указанного увеличения пособия на ребенка и второй раз — в виде задолженности по алиментам, что привело бы к его неосновательному обогащению.

Алименты за прошлый период

27.11.2019

Оксана обратилась в суд о взыскании алиментов, когда сыну исполнилось 10 лет. Раньше она жила по принципу «мне ничего не нужно от этого…..», но время шло, она остыла, а растущие расходы на ребёнка подтолкнули к мысли, что пора зарыть топор войны.⠀

Первый вопрос, который задала Оксана к юристу: «Сколько «накапало» алиментов за эти 13 лет?»⠀

Ответ её удивил: «Нисколько».⠀

Этому поражаются многие, но по закону⠀
Алименты присуждаются с момента обращения в суд (ч.2 ст. 107 СК РФ)⠀

В некоторых случаях алименты можно взыскать и за прошедший период, но это не те 10 лет, что прошли с рождения ребёнка.⠀

По закону это всего 3 года до обращения в суд (ч.2 ст.107 СК РФ) .⠀
И то, это возможно, если вы сможете доказать в суде, что до подачи иска принимали меры к получению алиментов, а вам отказывали.⠀

Последнее постановление Пленума ВС РФ от 26.12.2017 N 56 разъяснило, какие это доказательства. ⠀
Это обращение: ⠀
посредством направления телеграмм,⠀
заказных писем с уведомлением⠀
 посредством электронной почты с требованием об уплате алиментов либо с предложением заключить соглашение об уплате алиментов,⠀
 к мировому судье с заявлением о выдаче судебного приказа о взыскании алиментов на несовершеннолетнего ребенка (если впоследствии судебный приказ был отменен).⠀

У Оксаны таких доказательств нет, поскольку она ни разу не писала бывшему мужу из гордости.⠀

Как показывает моя практика, лишь немногие могут доказать такие попытки. Мало кто телеграфирует «П-т, заплати алименты тчк», а зря..⠀

Может, кому-то удавалось взыскать? Делитесь опытом.⠀


 

ЧИТАЙ БОЛЬШЕ на сайте http://vashdomru.ru/blog/

Квалифицированная помощь опытных юристов в Центре Услуг «Ваш Дом» Звоните 8/345-51/7-13-63, 8-982-914-4085


 

#вашюристЕленаСухарева #вашеблагополучиенашазабота #юрист #юридическая помощь #бесплатныеконсультацииюриста #лучшиеюристыИшима

 

Когда можно взыскать алименты — Семейные споры

Кто платит алименты

Родители обязаны содержать своих несовершеннолетних и в отдельных случаях совершеннолетних детей. Кроме того, установлена обязанность других членов семьи по содержанию друг друга, например трудоспособные совершеннолетние дети должны содержать своих нуждающихся в помощи родителей, являющихся нетрудоспособными или достигшими возраста 55 и 60 лет (соответственно для женщин и мужчин) (п. 1 ст. 80, п. 1 ст. 85, п. 1 ст. 87, п. 8 ст. 169 СК РФ).

Когда платить алименты

По общему правилу алименты присуждаются с момента обращения в суд (п. 2 ст. 107 СК РФ).

При этом, например, если лицо, обязанное уплачивать алименты, оказывает помощь в произвольном размере, этот факт сам по себе не может свидетельствовать о надлежащем исполнении обязанности по ежемесячному регулярному содержанию в необходимом размере и являться основанием для изменения даты начала взыскания алиментов (Апелляционные определения Московского городского суда от 20.01.2020 по делу N 33-2066/2020, от 08.10.2019 по делу N 33-8037/2019).

Кроме того, алименты могут быть взысканы судом за прошедший период в пределах трехлетнего срока с момента обращения в суд. Суд вправе удовлетворить такое требование, если до обращения в суд принимались меры к получению алиментов, однако лицо, обязанное уплачивать алименты, уклонялось от их уплаты (абз. 2 п. 2 ст. 107 СК РФ).

О мерах, принятых в целях получения алиментов, могут свидетельствовать, в частности, обращение истца к ответчику (например, посредством направления телеграмм, заказных писем с уведомлением либо посредством электронной почты) с требованием об уплате алиментов либо с предложением заключить соглашение об уплате алиментов, обращение к мировому судье с заявлением о выдаче судебного приказа о взыскании алиментов на несовершеннолетнего ребенка (если впоследствии судебный приказ был отменен) (п. 11 Постановления Пленума Верховного Суда РФ от 26.12.2017 N 56).

При определении даты, с которой с ответчика будут взысканы алименты за прошлое время, суд может учесть, что ответчик оказывал материальную помощь на содержание ребенка, нес расходы по его обеспечению (Апелляционное определение Московского городского суда от 30.03.2015 по делу N 33-10372/2015).

Алименты за прошедший период взыскиваются только в порядке искового производства (п. 3 ч. 3 ст. 125 ГПК РФ; п. 3 Постановления Пленума Верховного Суда РФ N 56; разд. II Обзора, утв. Президиумом Верховного Суда РФ 13.05.2015).

При этом бремя доказывания факта принятия мер к получению алиментов возлагается на истца (ч. 1 ст. 56 ГПК РФ).

В случае предъявления требования о взыскании алиментов одновременно с требованием об установлении отцовства (материнства) возможность взыскания алиментов за прошедший период исключается — алименты присуждаются со дня предъявления иска (п. 31 Постановления Пленума Верховного Суда РФ N 56).

Судебный приказ или решение суда о взыскании алиментов подлежит немедленному исполнению (ст. 211 ГПК РФ).

Обратите внимание! По делам о взыскании алиментов суд вправе вынести постановление о взыскании алиментов до вступления решения суда о взыскании алиментов в законную силу, а при взыскании алиментов на несовершеннолетних детей — до вынесения судом решения о взыскании алиментов (п. 1 ст. 108 СК РФ).

При изменении ранее установленного судом размера алиментов на детей и других членов семьи взыскание их во вновь установленном размере производится со дня вступления в законную силу соответствующего решения суда (п. 60 Постановления Пленума Верховного Суда РФ N 56).

Посмотрите еще темы

Сверхбыстрая фотохимия гидропероксида метила на частицах льда

Abstract

Моделирование показывает, что фотодиссоциация гидропероксида метила, CH 3 OOH, на кластерах воды дает удивительно широкий спектр продуктов в субпикосекундном масштабе времени, указывая на возможность сложного пути фотодеградации органических пероксидов в аэрозолях и каплях воды. Динамика рассчитывается при нескольких энергиях возбуждения при 50 К с использованием полуэмпирической потенциальной поверхности PM3.Было обнаружено, что CH 3 OOH предпочитает внешний вид кластера, при этом группа CH 3 O выступает наружу, а группа OH погружена в кластер. При подходящих для атмосферы длинах волн фотодиссоциации фотофрагменты OH и CH 3 O остаются на поверхности кластера или погружаются в него. Однако ни одна из 25 завершенных траекторий, выполненных при энергиях фотодиссоциации, релевантных для атмосферы, не привела к рекомбинации OH и CH 3 O с образованием CH 3 OOH.В рамках ограниченной статистики доступных траекторий прогнозируемый выход для рекомбинации равен нулю. Вместо этого различные реакции с участием исходных фрагментов и воды быстро образуют широкий спектр стабильных молекулярных продуктов, таких как CH 2 O, H 2 O, H 2 , CO, CH 3 OH и H 2 О 2 .

Фотоиндуцированные процессы на поверхности воды или льда представляют интерес для химии атмосферы и других областей. Однако понимание таких процессов на молекулярном уровне в значительной степени отсутствует, потому что системы и вовлеченные взаимодействия сложны.В этой статье мы исследуем в качестве фундаментального прототипа фотодиссоциацию простейшего органопероксида, CH 3 OOH, на частице льда. Основной мотивацией для изучения этого пероксида является его отношение к химии атмосферы, как обсуждается в ссылках. 1–11 и ссылки в них. Метилгидропероксид обычно присутствует в каплях воды в облаке в микромолярных концентрациях (7, 12, 13), а также, вероятно, присутствует в аэрозолях (4, 14). Судьба CH 3 OOH в каплях воды может влиять на его роль в качестве резервуара для HO x , потому что этот пероксид, как известно, является основным источником OH на больших высотах тропосферы (10, 15).Фентоноподобные реакции с участием CH 3 OOH и Fe (II) служат важным источником водных радикалов HO 2 (16). Наконец, недавние данные свидетельствуют о том, что реакции между пероксидами и продуктами окисления изопрена приводят к образованию тетролов, что способствует образованию вторичных органических аэрозолей (17).

Хорошо известно, что газовая фаза CH 3 OOH фотолизируется под действием УФ-видимого возбуждения с образованием CH 3 O и OH с квантовым выходом, близким к единице (8, 18–23).Из-за умеренной растворимости CH 3 OOH, он также может подвергаться фотолизу в конденсированной фазе после поглощения водными частицами и частицами льда и способствовать образованию водных свободных радикалов (24). Насколько нам известно, только два предыдущих эксперимента изучали фотолиз CH 3 OOH в жидкой воде (9) и частицах льда. Каждое из этих исследований идентифицировало CH 2 O и H 2 O в качестве основных продуктов, предполагая, что фотохимия CH 3 OOH значительно сложнее в средах с конденсированной фазой.В отличие от газофазного фотолиза CH 3 OOH (5, 8), его конденсированный фотолиз теоретическими методами не исследован. Мы использовали теоретическое исследование, чтобы проследить динамику первичных продуктов фотолиза, CH 3 O и OH, на небольшом кластере воды с атомистическим моделированием.

Есть много прецедентов использования основанных на молекулярной динамике подходов для исследования фотохимии в конденсированных средах (26–31) и использования небольших кластеров воды в качестве типичных модельных систем реакционной способности воды (32, 33).Например, фотолиз воды в кристаллическом льду был исследован с использованием силовых полей для аппроксимации потенциалов (26). Фотодиссоциация HCl, адсорбированной на льду, изучалась с помощью подхода, в котором фрагмент водорода описывался квантово-механически, а фрагмент хлора и молекулы воды рассматривались классически (27, 28). Аналогичная стратегия квантовой механики / молекулярной механики была использована для исследования фотодиссоциации пероксида хлора на льду (29). Некоторые исследователи прибегали к замораживанию определенных степеней свободы во время моделирования (30, 31).В этой работе используется метод электронной структуры PM3 (34) для генерации сил вдоль атомных траекторий «на лету» (35), что позволяет эффективно моделировать относительно большие кластеры. Настоящие расчеты не предполагают замораживания выбранных координат или уменьшения взаимодействий до силовых полей, которые могут искусственно предотвратить непредвиденные химические процессы. Наши результаты показывают, что даже для относительно небольшой многоатомной молекулы, такой как CH 3 OOH, фотолиз на льду дает большое разнообразие химических результатов.Ожидается, что для более крупных органических пероксидов разнообразие конкурирующих химических путей будет еще больше. Способность метода, который мы использовали для описания разнообразных, возможно, неожиданных химических реакций, важна для моделирования фотохимии органических пероксидов в воде. Мы ожидаем, что этот метод также может быть использован для моделирования других фотохимических процессов, происходящих в воде или в других конденсированных средах или внутри них.

Результаты

Молекула CH 3 OOH была расположена на поверхности кластера из 20 молекул воды, и было проведено динамическое моделирование при 50 K под влиянием потенциала PM3.Траектория распространялась за 30 пс. Было проанализировано двадцать случайно выбранных конфигураций от 10 до 29 пс. На рис. 1 представлен типичный снимок кластера. На этом и всех остальных снимках CH 3 OOH осталась на поверхности кластера. В симуляциях, которые намеренно поместили CH 3 OOH в середину кластера, CH 3 OOH мигрировали к поверхности. Атомы углерода и кислорода CH 3 O в среднем равноудалены от центра масс кластера (2.9 ± 0,2 и 2,9 ± 0,1 Å соответственно). Напротив, атом кислорода ОН был обнаружен ближе к центру кластера, 1,8 ± 0,2 Å, а водород ОН обычно находился в промежуточном месте, 2,6 ± 0,2 Å. На рис. 1 показан типичный образец связывания с двумя атомами кислорода и перекисным атомом водорода в CH 3 OOH, образующими водородные связи с соседними молекулами воды. Эта закономерность наблюдалась для всех 20 выбранных конфигураций.

Рис. 1.

Типичная структура CH 3 OOH на кластере льда из 20 молекул H 2 O при 50 К.Розовые ореолы указывают на атомы воды, связанные водородными связями с CH 3 OOH.

Всего было выполнено 120 симуляций фотолиза. Каждое из этих имитаций было построено на основе 1 из 20 уникальных начальных геометрий и шести различных энергий фотонов. Вертикальные переходы, соответствующие шести энергиям фотонов, изображены на рис. 2. Переход с энергией 6,7 эВ соответствует возбуждению Франка – Кондона из состояния с наименьшей энергией. Переход при 8,4 эВ соответствует фотовозбуждению в УФ области более высокой энергии.Переходы 4,8, 4,1 и 2,9 эВ соответствуют релевантным для атмосферы энергиям фотовозбуждения в ближней УФ и видимой областях солнечного спектра.

Рис. 2.

Потенциальные энергии основного и первого возбужденного состояний CH 3 OOH вдоль r (O — O). Длина вертикальных стрелок указывает исследованные энергии фотовозбуждения. В каждом моделировании фотолиза систему возбуждали до точки P * i . Затем молекула диссоциировала вдоль потенциала возбужденного состояния, и предполагалось, что уменьшение энергии вдоль потенциальной кривой r (O-O) полностью преобразуется в кинетическую энергию в координате r (O-O).При P * 1 предполагалось, что система внутренне перешла в основное состояние на P PMD , когда началось моделирование. В реальных расчетах использовался потенциал PM3, а не одиночный потенциал конфигурационного взаимодействия (CIS).

В таблице 1 представлены ключевые результаты для моделирования фотолиза, отсортированные по энергии фотонов, включая долю успешно завершенных траекторий, вероятности рекомбинации и связывания для каждого фрагмента фотолиза и окончательный размер кластера.

Таблица 1.

Данные для моделирования фотолиза

Реакция рекомбинации происходила только в 25% времени для возбуждения 0,39 эВ, даже несмотря на то, что фрагментам были присвоены только случайные тепловые скорости в начале этого моделирования (нет фрагмента отдачи от фотолиза. ). В каждом из этих случаев моделирование показало, что фрагменты сближаются друг с другом колебательно. Амплитуда колебаний имела тенденцию к уменьшению со временем, пока расстояние пероксидной связи не стало относительно постоянным.Рекомбинация никогда не происходила при атмосферно релевантных энергиях возбуждения, при которых фрагменты были вынуждены отскакивать друг от друга после разрыва связи O — O. В некоторых случаях фрагменты действительно сближались в кластере после фотолиза с более высокой энергией. Эти встречи, однако, имели тенденцию стимулировать выброс H или H 2 из фрагмента CH 3 O, а не приводили к рекомбинации. Это открытие указывает на то, что, несмотря на ожидаемые эффекты молекулярной клетки, рекомбинация очень маловероятна для фотолизированной молекулы CH 3 OOH, сидящей на поверхности льда или воды.

Траектории, приводящие к выбросу CH 3 O и / или OH из кластера, также были на удивление редкими, за исключением событий фотолиза с наивысшей энергией. CH 3 O выбрасывался из кластера чаще, чем OH из-за исходной ориентации CH 3 O — OH. В целом, r (O — O) был приблизительно перпендикулярен поверхности водного кластера в начале этого моделирования, а группа CH 3 O находилась на поверхности. В событиях выброса фрагмент ОН быстро откатился прямо через центр кластера, а затем покинул противоположную поверхность, часто сталкиваясь и одновременно соизбрасывая от одной до трех молекул воды.Фрагмент CH 3 O, напротив, двигался прямо от поверхности кластера медленным перпендикулярным образом и обычно не блокировался соседними молекулами H 2 O.

Самым захватывающим результатом этих симуляций было наблюдение богатой химии, включающей исходные фрагменты фотолиза, причем некоторые из продуктов появлялись уже через 0,2 пс. На рис. 3 показано распределение химических продуктов при моделировании фотолиза при 50 К CH 3 OOH на 20 молекулах воды.Столбики показывают процент завершенных симуляций, которые привели к определенному химическому соединению в качестве конечного продукта. Такие продукты, как CHO, H, O и CH 2 (OH) 2 , которые появились только в одном или двух моделированиях, не были включены на рис. 3. При трех самых низких энергиях фотонов CH 2 O и H 2 O были основными продуктами. Например, образование CH 2 O и H 2 O происходило в 50% моделирования с энергией 4,1 эВ, в то время как образование H 2 , CO, CH 3 OH и H 2 O 2 образовывалось. в остальных случаях.Образование CH 2 O и H 2 O происходило, в некоторых случаях, путем прямого отрыва атома H от CH 3 O с помощью OH. Однако более распространенным путем была мономолекулярная диссоциация CH 3 O через промежуточное соединение CH 2 OH на CH 2 O и H с последующей серией переносов атома H между несколькими молекулами воды, пока атом H не был перешел в OH с образованием H 2 O.

Рис. 3.

Распределение химических продуктов при фотолизе CH 3 OOH на ледяном кластере 50 K.

Испарение молекул воды из кластера наблюдалось на многих траекториях. О степени испарения можно судить по окончательному размеру кластера (таблица 1). В целом, более крупные конечные размеры кластеров, т.е. кластеры с меньшей степенью испарения, наблюдались для самых высоких и самых низких энергий возбуждения. В среде, более релевантной для атмосферы, с энергиями возбуждения фрагменты оставались в кластере после фотовозбуждения, но имели тенденцию выделять кинетическую энергию при столкновениях с молекулами воды.Дополнительная кинетическая энергия высвобождалась в последующих химических реакциях. В совокупности эти эффекты имели тенденцию разрушать кластеры, приводя к более низким конечным размерам кластеров, которые наблюдались.

Обсуждение

Мы использовали быстрый метод, подходящий для изучения фотохимии многоатомных молекул в конденсированных и / или гетерогенных средах, таких как поверхности атмосферы. Наши расчеты показывают, что фотолиз CH 3 OOH на поверхности небольшого кластера воды приводит к нескольким химическим результатам, зависящим от длины волны, включая образование CH 2 O и H 2 O, выход фрагментов, рекомбинация и образование других химических продуктов.Пятьдесят процентов моделирования фотолиза при λ = 300 нм (4,1 эВ) привели к образованию CH 2 O и H 2 O. Хотя CH 3 O и OH являются основными продуктами CH 3 OOH. газофазный фотолиз (8, 18–22), образование CH 2 O и H 2 O термодинамически благоприятно (ΔE = −55 ккал · моль −1 ). Однако этому процессу препятствует энергетический барьер, который на ≈3,4 ккал · моль -1 превышает потребность в энергии для образования CH 3 O и OH при прямом разрыве связи O — O (8).Наше моделирование показывает, что окружающие молекулы воды способствуют образованию продуктов реакции с более низкой энергией CH 2 O и H 2 O.

Monod et al. (9) недавно сообщили о результатах экспериментальных исследований, направленных на характеристику фотолиза CH 3 OOH и родственного пероксида C 2 H 5 OOH в условиях моделирования облачных капель. Миллимолярные концентрации молекул перекиси, растворенных в воде, подвергали фотолизу при значениях pH от нейтральных до кислых при 279 К.В соответствии с нашим моделированием они обнаружили, что для фотолиза CH 3 OOH при pH 7 преобладающим продуктом был CH 2 O, за которым следует H 2 O 2 . Monod et al. (9, 16) предположили, что радикал CH 3 O в воде может быстро изомеризоваться с образованием CH 2 OH. В проведенном нами моделировании, которое привело к образованию CH 2 O, CH 3 O фактически изомеризуется в CH 2 OH. Затем изомеризация до CH 2 OH сопровождалась выбросом H и образованием CH 2 O.Наконец, следует также отметить, что в недавнем исследовании Schrems et al. продемонстрировал, что фотолиз CH 3 OOH во льду приводит к образованию CH 2 O в качестве основного продукта.

Представляет интерес сравнение между CH 3 OOH и H 2 O 2 . Газовая фаза H 2 O 2 быстро распадается на два радикала ОН при УФ-фотовозбуждении с почти 100% эффективностью (36). Примерно 50% пар ОН + ОН, образованных в результате фотолиза H 2 O 2 в воде (37, 38) или льду (39), рекомбинируют обратно в H 2 O 2 .Напротив, как экспериментальные, так и теоретические данные свидетельствуют о том, что рекомбинация не так эффективна при фотолизе CH 3 OOH. Monod et al. Авторы (9, 40) связывают этот результат с легкостью изомеризации радикала CH 3 O в радикал CH 2 OH в водных условиях. Наше моделирование, по-видимому, предполагает перенос H-атома от CH 3 O · к · OH как вероятный механизм подавления рекомбинации. Независимо от интерпретации ясно, что на распределение продуктов фотолиза сильно влияют быстрые вторичные реакции, происходящие после начального разрыва связи O — O.

Метод PM3, как правило, неточен количественно. Однако для органических молекул в кластерах воды, рассматриваемой здесь системы, она предлагает разумный баланс между эффективностью и точностью. Чтобы проверить точность этого метода, мы рассчитали энергию электронной связи PM3 для димера H 2 O — H 2 O и нашли, что она составляет -3,2 ккал · моль -1 . Этот результат хорошо согласуется с существующей литературой, в которой истинная энергия связи оценивается как ≈3–5 ккал · моль –1 (41–43).Решающим для применимости метода является то, что через короткое время можно было бы предположить, что распространение происходит в основном электронном состоянии. Это предположение, безусловно, не учитывает реакции, которые потенциально могут происходить на поверхности потенциальной энергии с электронным возбуждением (ППЭ). В случае УФ-фотолиза органических пероксидов химия возбужденного состояния вряд ли внесет значительный вклад, потому что начальный разрыв связи O — O происходит в фемтосекундном временном масштабе на полностью отталкивающем ППЭ (рис.2). Полуколичественное согласие с экспериментом позволяет предположить, что динамика фотодиссоциации CH 3 OOH в воде определяется ППЭ основного состояния. Таким образом, этот подход может быть применим к широкому кругу процессов прямой фотодиссоциации на поверхности воды и льда.

Материалы и методы

Моделирование молекулярной динамики использовалось для описания системы в тепловом равновесии до поглощения фотона. Эффективное, но достаточно реалистичное силовое поле необходимо для моделирования динамики.Мы выбрали полуэмпирический потенциал PM3 (34) и использовали его в динамическом моделировании динамики (35) при 50 K. Для недавнего обзора моделирования динамики атмосферно значимых процессов, включая моделирование реакций в водных кластерах и PM3. для получения информации о динамике см. исх. 33. Траектории отслеживались с течением времени до уравновешивания, обращая внимание на относительное положение и ориентацию CH 3 OOH по отношению к остальной части ледяного кластера, а также на взаимодействие молекул воды с пероксидом.Снимки, извлеченные из этих симуляций, были использованы для получения набора начальных конфигураций для последующих симуляций фотолиза.

Потенциальные энергии для основного состояния и первого возбужденного синглетного состояния изолированного CH 3 OOH в зависимости от расстояния O — O (рис. 2) были вычислены с использованием синглов конфигурационного взаимодействия (25). Потенциал возбужденного состояния является отталкивающим при соответствующей геометрии, и диссоциация после фотовозбуждения Франка – Кондона CH 3 OOH начинается с разрыва связи O — O.Это предположение подтверждается предыдущими исследованиями (5, 8). Когда фрагменты CH 3 O и OH разделяются на расстояние 2,6 Å, основная и возбужденная кривые сливаются, и мы предположили, что в этот момент система переходит в основное электронное состояние. Несколько пробных имитаций для CH 3 OOH на льду показали, что рассеяние энергии от фрагментов в кластер было незначительным на этих ранних стадиях процесса. Таким образом, все траектории проводились на потенциале основного состояния PM3, начиная с расстояний фрагментов r (O — O) ≈ 2.6 Å. Предполагалось, что вся избыточная энергия идет на поступательную отдачу фрагментов OH и CH 3 O, параллельных связи O — O; соответствующие значения их начальных скоростей были рассчитаны из сохранения количества движения и наложены на тепловые скорости. Распространение всех траекторий отслеживалось на лету с PM3.

Благодарности

Мы благодарим доктора О. Шремса (Институт Альфреда Вегенера, Бремерхафен, Германия) за предоставление предварительных результатов экспериментов по фотолизу CH 3 OOH во льду.Эта работа была поддержана Национальным научным фондом через Институт молекулярных наук об окружающей среде (грант CHE-0431312). Работа в Еврейском университете поддержана грантом Израильского научного фонда 114/08.

Сноски

  • 1 Кому следует направлять корреспонденцию. Электронная почта: bgerber {at} uci.edu.
  • Вклад авторов: M.A.K., S.A.N. и R.B.G. спланированное исследование; М.А.К. проведенное исследование; М.А.К. проанализированные данные; и M.A.K., S.А.Н., Р.Б.Г. написал газету.

  • Авторы заявляют об отсутствии конфликта интересов.

  • Эта статья представляет собой прямое представление PNAS.

  • Шремс О., Ганд М., Игнатов С.К., Сенников П.Г., Стендовый доклад, Седьмая международная конференция по низкотемпературной химии, 24–29 августа 2008 г., Хельсинки, Финляндия.

Произошла ошибка при настройке пользовательского файла cookie

Этот сайт использует файлы cookie для повышения производительности.Если ваш браузер не принимает файлы cookie, вы не можете просматривать этот сайт.


Настройка вашего браузера для приема файлов cookie

Существует множество причин, по которым cookie не может быть установлен правильно. Ниже приведены наиболее частые причины:

  • В вашем браузере отключены файлы cookie. Вам необходимо сбросить настройки своего браузера, чтобы он принимал файлы cookie, или чтобы спросить вас, хотите ли вы принимать файлы cookie.
  • Ваш браузер спрашивает вас, хотите ли вы принимать файлы cookie, и вы отказались.Чтобы принять файлы cookie с этого сайта, используйте кнопку «Назад» и примите файлы cookie.
  • Ваш браузер не поддерживает файлы cookie. Если вы подозреваете это, попробуйте другой браузер.
  • Дата на вашем компьютере в прошлом. Если часы вашего компьютера показывают дату до 1 января 1970 г., браузер автоматически забудет файл cookie. Чтобы исправить это, установите правильное время и дату на своем компьютере.
  • Вы установили приложение, которое отслеживает или блокирует установку файлов cookie.Вы должны отключить приложение при входе в систему или проконсультироваться с системным администратором.

Почему этому сайту требуются файлы cookie?

Этот сайт использует файлы cookie для повышения производительности, запоминая, что вы вошли в систему, когда переходите со страницы на страницу. Чтобы предоставить доступ без файлов cookie потребует, чтобы сайт создавал новый сеанс для каждой посещаемой страницы, что замедляет работу системы до неприемлемого уровня.


Что сохраняется в файле cookie?

Этот сайт не хранит ничего, кроме автоматически сгенерированного идентификатора сеанса в cookie; никакая другая информация не фиксируется.

Как правило, в файле cookie может храниться только информация, которую вы предоставляете, или выбор, который вы делаете при посещении веб-сайта. Например, сайт не может определить ваше имя электронной почты, пока вы не введете его. Разрешение веб-сайту создавать файлы cookie не дает этому или любому другому сайту доступа к остальной части вашего компьютера, и только сайт, который создал файл cookie, может его прочитать.

Произошла ошибка при настройке пользовательского файла cookie

Этот сайт использует файлы cookie для повышения производительности.Если ваш браузер не принимает файлы cookie, вы не можете просматривать этот сайт.


Настройка вашего браузера для приема файлов cookie

Существует множество причин, по которым cookie не может быть установлен правильно. Ниже приведены наиболее частые причины:

  • В вашем браузере отключены файлы cookie. Вам необходимо сбросить настройки своего браузера, чтобы он принимал файлы cookie, или чтобы спросить вас, хотите ли вы принимать файлы cookie.
  • Ваш браузер спрашивает вас, хотите ли вы принимать файлы cookie, и вы отказались.Чтобы принять файлы cookie с этого сайта, используйте кнопку «Назад» и примите файлы cookie.
  • Ваш браузер не поддерживает файлы cookie. Если вы подозреваете это, попробуйте другой браузер.
  • Дата на вашем компьютере в прошлом. Если часы вашего компьютера показывают дату до 1 января 1970 г., браузер автоматически забудет файл cookie. Чтобы исправить это, установите правильное время и дату на своем компьютере.
  • Вы установили приложение, которое отслеживает или блокирует установку файлов cookie.Вы должны отключить приложение при входе в систему или проконсультироваться с системным администратором.

Почему этому сайту требуются файлы cookie?

Этот сайт использует файлы cookie для повышения производительности, запоминая, что вы вошли в систему, когда переходите со страницы на страницу. Чтобы предоставить доступ без файлов cookie потребует, чтобы сайт создавал новый сеанс для каждой посещаемой страницы, что замедляет работу системы до неприемлемого уровня.


Что сохраняется в файле cookie?

Этот сайт не хранит ничего, кроме автоматически сгенерированного идентификатора сеанса в cookie; никакая другая информация не фиксируется.

Как правило, в файле cookie может храниться только информация, которую вы предоставляете, или выбор, который вы делаете при посещении веб-сайта. Например, сайт не может определить ваше имя электронной почты, пока вы не введете его. Разрешение веб-сайту создавать файлы cookie не дает этому или любому другому сайту доступа к остальной части вашего компьютера, и только сайт, который создал файл cookie, может его прочитать.

Вода | Бесплатный полнотекстовый | Карбамазепин как возможный антропогенный маркер в воде: случаи, токсикологические эффекты, правила и удаление с помощью технологий очистки сточных вод

5.1. Процессы на основе активированного ила
Удаление PhAC с помощью различных процессов биологической очистки широко изучалось [3,4]. В обычных процессах с активным илом (CAS) микроорганизмы генерируют энергию, используя органические вещества, присутствующие в сточных водах, в качестве основного источника пищи (также известного как субстрат). Часть этой энергии используется микроорганизмами для роста клеток, а оставшаяся энергия используется для поддержания клеток [121,122,123]. Поскольку некоторые PhAC, такие как антибиотики, могут быть токсичными для микроорганизмов и ингибировать их рост, дополнительный субстрат для роста (т.е., ко-метаболизм) требуется для поддержания роста и разнообразия микробов для адекватного биоразложения [124,125]. Процесс CAS включает применение микроорганизмов для разложения загрязнителей [16]. Мембранный биореактор (MBR) представляет собой интеграцию процесса CAS с ультрафильтрационной (UF) или микрофильтрационной (MF) мембраной для эффективного разделения твердой и жидкой фаз [3,126,127]. Удаление CBZ с помощью CAS и MBR при различных рабочих условиях, таких как время гидравлического удерживания (HRT), время удерживания твердых частиц (SRT) и начальная концентрация, представлено в таблице 5.В процессе CAS отстойник используется для отделения очищенной воды от ила. В MBR это разделение твердой и жидкой фаз осуществляется путем фильтрации через мембраны MF или UF. Эффективное удерживание активного ила мембраной в MBR отделяет SRT от HRT, тем самым позволяя работать биореактору на основе активного ила при более высокой концентрации взвешенных твердых частиц в смешанном щелоке (MLSS) и более длительной SRT [135,136]. В нескольких исследованиях сообщалось, что MBR обеспечивает лучшее удаление водной фазы умеренно биоразлагаемых PhAC по сравнению с процессом CAS [126, 137].Например, удаление нестероидного противовоспалительного препарата диклофенак с помощью MBR составило 56%, в то время как его удаление составило 26% с помощью CAS [138]. Точно так же MBR позволяет на 20% лучше удалять другой нестероидный противовоспалительный препарат напроксен [126]. Тем не менее, удаление CBZ как CAS, так и MBR было плохим и нестабильным (Таблица 5). Плохое удаление CBZ может быть связано с его физико-химическими свойствами, такими как молекулярная структура и гидрофильность [71, 134, 139, 140]. Сорбция активным илом может увеличить общее удаление PhAC.Наблюдается, что CAS и MBR обеспечивают высокое удаление (> 80%) гидрофобных PhAC (log D> 3), но меньшее удаление (обычно 141 142). Поскольку CBZ является умеренно гидрофобным, его удаление путем сорбции на активном иле, как сообщается, находится в диапазоне от Только от 5 до 20% [16,27]. Это говорит о том, что удаление CBZ зависит от его внутренней биоразлагаемости, которая определяется его молекулярными свойствами. В целом, простые структурированные PhAC, особенно без разветвленных / многоцепочечных групп, легко разлагаются [134, 143 ].Более того, PhAC, содержащие электроноакцепторную функциональную группу (EWG), такую ​​как карбоксил, галоген и амид, устойчивы к биологической обработке [134]. Действительно, CBZ содержит EWG (т.е. амид), который делает его устойчивым к биоразложению. Важно отметить, что рабочие условия, такие как SRT, HRT и концентрация MLSS, также могут влиять на удаление некоторых PhAC активным илом [3,139]. Однако, поскольку CBZ является трудноразлагаемым биоразлагаемым соединением, имеющиеся отчеты указывают на ограниченное влияние этих параметров на удаление CBZ.Zhang et al. [16] не наблюдали удаления CBZ с помощью CAS даже при SRT в 100 дней. Аналогичным образом Радженович и др. [128], не наблюдали улучшения в удалении CBZ после увеличения SRT как CAS, так и MBR. Напротив, Wijekoon et al. [27] достигли 40% удаления CBZ в MBR при SRT 88 дней. Несмотря на то, что экспериментальные условия в этих исследованиях могли быть разными, полученные здесь наблюдения предполагают, что удаление и судьба CBZ во время процессов биологической очистки зависит от множества факторов.О влиянии окислительно-восстановительных условий или растворенного кислорода на удаление PhAC в MBR сообщалось в нескольких исследованиях [144, 145, 146]. В исследовании Suarez et al. [147], PhAC были классифицированы на основе их потенциала биоразложения в аэробных и аноксических условиях: они обнаружили, что легко разлагаемые PhAC, такие как флуоксетин и ибупрофен, были биоразлагаемыми как в аноксических, так и в аэробных условиях, в то время как некоторые из них, такие как рокситромицин, напроксен, диклофенак и эритромицин. были стойкими в бескислородных условиях, но легко разлагались в аэробных условиях.Однако гидрофильные PhAC, включая CBZ, были устойчивы к биоразложению как в аэробных, так и в бескислородных условиях [147], и была отмечена незначительная разница в удалении CBZ последовательным аноксически-аэробным MBR по сравнению с обычным аэробным MBR. Примечательно, однако, что Hai et al. [139] сообщили, что условия, близкие к аноксическим (DO = 0,5 мг / л), могут быть благоприятным рабочим режимом для удаления CBZ. Они объяснили, что «последовательный аноксико-аэробный» и «непрерывный почти бескислородный (DO = 0,5 мг / л)» режимы работы были разными.В первом случае перенос кислорода из вентилируемых отсеков в бескислородную зону из-за рециркуляции ила может влиять на эффективность удаления [139].
5.2. Грибы белой гнили и их внеклеточные ферменты
Грибы белой гнили (WRF) могут разлагать различные стойкие загрязнители (например, полиароматические углеводороды и PhAC), которые плохо разлагаются активным илом с преобладанием бактерий [148,149,150,151,152]. В присутствии легко разлагаемого субстрата WRF продуцирует один или несколько типов внеклеточных ферментов, таких как лакказа и пероксидазы лигнина (LiP).Эти ферменты катализируют разложение стойких загрязнителей в широком диапазоне pH [153,154]. Помимо внеклеточных ферментов, Golan-Rozen et al. [155] наблюдали, что внутриклеточный фермент, а именно цитохром P450, играет жизненно важную роль в деградации CBZ под действием цельноклеточного WRF. Они продемонстрировали, что деградация CBZ снижается с 99% до примерно 15% при ингибировании цитохрома P450 [155]. Целоклеточные WRF и их внеклеточные ферменты были тщательно изучены для улучшения удаления PhAC, как показано в Таблице 6.В зависимости от фугальных видов, эффективное удаление CBZ достигается с помощью цельноклеточного WRF в стерильных биореакторах периодического действия (таблица 6). Поскольку виды WRF продуцируют разные комбинации внеклеточных ферментов, их характеристики деградации CBZ могут быть разными. Например, Rodarte-Morales et al. [156] отметили, что Bjerkandera sp. И R1, и Bjerkandera adusta достигли почти полного удаления (99%) CBZ при начальной концентрации 1 мг / л в биореакторе периодического действия в течение 14 дней инкубации.С другой стороны, Trametes versicolor, как сообщалось, достигал менее 5% удаления, когда CBZ инкубировали в биореакторе периодического действия целых клеток при начальной концентрации 0,1 мг / л и времени инкубации 24 часа [158]. Различия в производительности наблюдались не только в случае разных видов WRF, но также и у разных штаммов видов WRF. Например, Golan-Rozen et al. [155] изучали удаление CBZ тремя разными штаммами Pleurotus ostreatus в идентичных рабочих условиях.Они отметили, что P. ostreatus (PC9) удалял 99% CBZ, в то время как умеренное удаление (50–60%) было достигнуто двумя другими штаммами, а именно P. ostreatus (Флорида N001) и P. ostreatus (Флорида F6). Внеклеточные ферменты, продуцируемые видами WRF, были изучены на предмет удаления PhAC, включая CBZ, в ферментативных биореакторах периодического действия и непрерывного потока (Таблица 6). Разложение PhAC внеклеточными ферментами, такими как лакказа, происходит из-за переноса одного электрона от загрязнителя к активным центрам фермента.Подобно процессу обработки на основе активного ила, степень разложения ферментом также зависит от молекулярных свойств PhAC. Поскольку CBZ содержит устойчивый EWG (т.е. амид), его деградация внеклеточными ферментами, как сообщается, колеблется только в пределах 5-15% [157, 162]. Golan-Rozen et al. Объяснили высокое удаление CBZ в биореакторе цельноклеточных грибов по сравнению с ферментативным мембранным биореактором. [155]. Они заметили, что внутриклеточный фермент, а именно цитохром P450, играет жизненно важную роль в деградации CBZ под действием цельноклеточного WRF.Они продемонстрировали, что деградация CBZ снижается с 99% до приблизительно 15% при ингибировании цитохрома P450 [155]. Эффективность WRF для удаления PhAC преимущественно оценивалась в стерильных условиях, чтобы избежать бактериального заражения [158, 165, 166]. Это связано с тем, что бактериальное заражение в нестерильных условиях может отрицательно повлиять на работу цельноклеточного WRF [154, 167]. Действительно, сообщалось о плохом удалении CBZ в грибковых биореакторах, работающих в нестерильных условиях, по сравнению со стерильными грибковыми биореакторами [168, 169, 170].Например, Nguyen et al. [161] сообщили об удалении только 5% CBZ в цельноклеточном грибковом мембранном биореакторе. В другом исследовании не наблюдалось удаления CBZ в нестерильном грибковом биореакторе с псевдоожиженным слоем во время очистки больничных сточных вод [171]. Чтобы избежать бактериального заражения, был предложен ряд стратегий, таких как замена / обновление грибковой биомассы и предварительная очистка сточных вод. Эти стратегии были рассмотрены Asif et al. [154].

последних публикаций | Сократ Пантелидес

Google Scholar Citation Page

2021

[1] Т.Фен, Й. Ван, А. Херклотц, М. Ф. Чизхолм, Т. З. Уорд, П. С. Снейдерс, С. Т. Пантелидес, “Определение структуры поверхности оксида переходного металла рутила с помощью универсальной сканирующей туннельной микроскопии с изменением контракта”, Phys. Ред. B . 103 , 035409 (2021).

[2] С. Ноймайер, М. Суснер, М. Макгуайр, С. Т. Пантелидес, С. Калнаус, П. Максимович, Н. Балке, «Снижение T C в слоистых материалах Ван-дер-Ваальса при деформации в плоскости» , в печати, IEEE Trans.Ультразвуковой. Сегнетоэлектр. Freq. Контроль.

[3] С. М. Ноймайер, М. Суснер, М. Макгуайр, С. Т. Пантелидес, С. Калнаус, П. Максимович, Н. Балке, «Экспериментальное исследование сегнетоэлектрического поведения в слоистых материалах Ван-дер-Ваальса при деформации в плоскости», in пресс, IEEE Trans. Ультразвуковой. Сегнетоэлектр. Freq. Контроль .

[4] Q. Zheng, T. Feng, JA Hachtel, J. Yan, R. Ishikawa, N. Shibata, Y. Ikuhara, JC Idrobo, BC Sales, ST Pantelides, M. Chi, «Прямая визуализация анионных электронов. в электриде выявляет неоднородности », в печати, Sci.Adv .

2020

[1] Q. Wang, ZL Zhao, Z. Zhang, T. Feng, R. Zhong, H. Xu, ST Pantelides, M. Gu, «Крупномасштабное производство заказанного интерметаллида толщиной менее 2 нм Pt 2 In кластеры для реакции восстановления кислорода », Adv. Sci. 7 , 19 (2020).

[2] Дж. А. Брем, С. Ноймайер, М. Чяснавичус, М. А. Суснер, М. А. Макгуайр, С. В. Калинин, С. Джесси, П. Ганеш, С.Т. Пантелидес, П. Максимович, Н. Балке, “Перестраиваемое четырехъямное сегнетоэлектричество в кристалле Ван-дер-Ваальса”, Nat. Матер. 19 , 43 (2020).

[3] Т. Фэн, X. Ву, X. Ян, П. Ван, Л. Чжан, X. Ду, X. Ван, С. Т. Пантелидес, «Теплопроводность HfTe 5 : критический обзор», Adv. Funct. Матер. 30 , 1

6 (2020).

[4] C.-T. То, Х. Чжан, Дж. Линь, А.С. Майоров, Ю.-П. Ван, К. Орофео, Д. Б. Ферри, Х. Андерсон, Н.Какенов, Х. Симс, К. Суэнага, С. Т. Пантелидес, Б. Эзилмаз, «Синтез и свойства автономного монослоя аморфного углерода», Nature 577 , 199 (2020).

[5] R. Ma, J. Ma, J. Yan, L. Wu, W. Guo, S. Wang, Q. Huan, L. Bao, S. T. Pantelides, H.-J. Гао, «Индуцированные морщинами каналы с высокой проводимостью в графене на подложке SiO 2 / Si», Nanoscale 22 , 12038 (2020).

[6] X. Jin, Y.-Y. Чжан, С.Т. Пантелидес, С.Ду, «Интеграция графена и двумерных сегнетоэлектриков: свойства и связанные функциональные устройства», Nanoscale Horizons , (2020) (онлайн).

[7] R. Wu, D.-L. Бао, Л. Ян, Ю. Ван, Дж. Рен, Ю.-Ф. Чжан, К. Хуан, Ю.-Й. Чжан, С. X. Ду, С. Т. Пантелидес, Х.-Ж. Гао, «Прямая визуализация промежуточных состояний с переносом водорода с помощью сканирующей туннельной микроскопии», J. Phys. Chem. Lett. 11 , 1536 (2020).

[8] R. Zhang, J. Liu, Y.-Y.Чжан, С. Ду, С. Т. Пантелидес, «Необычное анизотропное тепловое расширение в многослойном SnSe приводит к переходу между положительным и отрицательным коэффициентом Пуассона», Appl. Phys. Lett . 116 , 083101 (2020).

[9] Л. Тао, Ю.-Й. Чжан, С. Ду, С. Т. Пантелидес, Х.-Ж. Гао, «Настройка каталитической активности квантового щелкунчика для диссоциации водорода», Поверхности 3 , 40 (2020).

[10] Дж. Чжоу, Дж. Линь, Х. Симс, К. Цзян, К. Конг, Дж. А. Брем, З.Zhang, L, Niu, Y. Chen, Y. Zhou, Y. Wang, F. Liu, C. Zhu, T. Yu, K. Suenaga, R. Mishra, S. T. Pantelides, Z.-G. Цзу, В. Гао, З. Лю, В. Чжоу, «Синтез совместно легированных монослоев MoS 2 с усиленным разделением долин», Adv. Матер. 32 , 16 (2020).

[11] Х. Го, Р. Чжан, Х. Ли, Х. Ван, Х. Лу, К. Цянь, Г. Ли, Л. Хуанг, X. Линь, Y.-Y. Чжан, Х. Дин, С. Ду, С. Т. Пантелидес, Х.-Дж. Го, “Значительная ширина запрещенной зоны в эпитаксиальном двухслойном графене, индуцированная интеркаляцией силицена”, Nano Lett . 20 , 2674 (2020).

[12] L. Wu, J. Shi, Z. Zhou, J. Yan, A. Wang, C. Bian, J. Ma, R. Ma, H. Liu, J. Chen, Y. Huang, w. Чжоу, Л. Бао, М. Оуян, С. Т. Пантелидес, Х.-Ж. Гао, «Гетероструктура InSe / hBN / графит для высокопроизводительной 2D-электроники и гибкой электроники», Nano Res. 13 , 1 (2020).

[13] Ю. Чжоу, С. Кузер, А. Ю. Борисевич, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Мэй, «Доказательства межфазного октаэдрического взаимодействия как пути повышения магнитосопротивления в сверхрешетках оксида перовскита», Adv.Матер. Интерфейсы 7 , 16 (2020).

[14] К. Цянь, Л. Гао, X. Чен, Х. Ли, С. Чжан, X.-L. Чжан, С. Чжу, Дж. Ян, Д. Бао, Л. Цао, Ж.-А. Ши, Дж. Лу, Ч. Лю, Дж. Ван, Т. Цянь, Х. Дин, Л. Гу, В. Чжоу, Ю.-Й. Чжан, Х. Линь, С. Ду, М. Оуян, С. Т. Пантелидес, Х.-Ж. Гао, «Воздухоустойчивый монослой Cu 2 Se демонстрирует чисто термический структурный фазовый переход», Adv. Матер. 32 , 14 (2020).

[15] Т. Фенг, А. О’Хара, С.Т. Пантелидес, «Квантовое предсказание сверхнизкой теплопроводности в материалах с интеркаляцией лития», Nano Energy 75 , 104916 (2020).

[16] С. М. Ноймайер, Л. Тао, А. О’Хара, Дж. Брем, М. Си, П.-Й. Ляо, Т. Фэн. С. В. Калинин, П. Д. Е., С. Т. Пантелидес, П. Максимович, Н. М. Балке, “Выравнивание поляризации против электрического поля в ван-дер-ваальсовых сегнетоэлектриках”, Phys. Ред. A. 13 , 064063 (2020).

[17] Р. Васудеван, С.М. Ноймайер, М. А. Суснер, М. А. Макгуайр, С. Т. Пантелидес, П. Максимович, Д. Н. Леонард, Н. Балке, А. Ю. Борисевич, “Домены и топологические дефекты в слоистых сегнетоэлектрических материалах”, ACS Appl. Nano Mater. 3 , 8161 (2020).

[18] А. Дзяугис, К. Келли, Дж. А. Брем, А. Пурецкий, Т. Фенг, С. Ноймайер, М. Чяснавичюс, Е. А. Елисеев, Дж. Банис, Ю. Высочанский, Ф. Е, Б. Чакумакос, М.А. Макгуайр, С.В. Калинин, Г. Панчапакесан, С.Т. Пантелидес, Н. Балке, А.Н. Морозовская, П. Максимович, “Пьезоэлектрические доменные границы в ван-дер-ваальсовом сегнетоэлектрике CuInP 2 Se 6 ”, Nature Comm. 11 , 1 (2020).

[19] С. М. Ноймайер, Дж. Брем, Л. Тао, А. О’Хара, П. Ганеш, С. Джесси, М. Суснер, М. МакГуайр, С. Т. Пантелидес, П. Максимович, Н. Балке, «Местные Картирование деформации и поляризации в сегнетоэлектрических материалах », ACS Appl. Матер. Интер. 12 , 38546 (2020)

[20] Л. Лю, Л.Wu, A. Wang, H. Liu, R. Ma, K. Wu, J. Chen, Z. Zhou, Y. Tian, ​​H. Yang, C.-M. Шен, Л. Бао, З. Цинь, С. Т. Пантелидес, Х.-Ж. Гао, “Фотоприемники InSe с сегнетоэлектрическим стробированием с высокими отношениями включения / выключения и светочувствительностью”, Nano Lett . 20 , 6666 (2020).

[21] К. Аппаву, Дж. Наг, Б. Ван, В. Луо, Г. Душер, Э. А. Пайзант, М. Ю. Сфейр, С. Т. Пантелидес, Р. Ф. Хаглунд-младший, «Электронная динамика и динамика решетки, управляемая допингом в фазе изменение материала диоксида ванадия », Phys.Ред. B . 102 , 115148 (2020).

[22] С.М. Ноймайер, А. Моразовска, Э. Елисеев, Дж. Брем, М.А. Суснер, М.А. Макгуайр, С.Т. Пантелидес, П. Максимович, Н. Балке, «Концепция отрицательной емкости в ионно-проводящей ван-дер-ваальсовой системе. сегнетоэлектрики », Adv. Ener. Матер. 10 , 2001726 (2020).

[23] Х. Го, X. Ван, Л. Хуанг, X. Цзинь, Z.-Z. Ян, З. Чжоу, Х. Ху, Й.-Й. Чжан, Х. Лу, К. Чжан, К. Шен, X. Линь, Л. Гу, К. Дай, Л.-Х.Бао, С. Ду, В. Хофер, С. Т. Пантелидес, Х.-Дж. Гао, «Изоляция SiO 2 под сантиметровым монокристаллом, монокристаллический графен позволяет изготавливать электронные устройства», Nano Lett 20 , 8584 (2020).

[24] О. С. Овчинников, А. О’Хара, С. Джесси, Б. М. Худак, С.-З. Ян, А. Lupini, M. F. Chisholm, W. Zhu, s. В. Калинин, А. Ю. Борисевич, С. Т. Пантелидес, “Обнаружение дефектов в изображениях материалов с атомным разрешением с помощью циклического анализа”, Adv.Struct. Chem. Представь. 6 , 1 (2020).

2019

[1] Дж. Фанг, М. Реаз, С. Л. Виден-Райт, Р. Д. Шримпф, Р. А. Рид, Р. А. Веллер, М. В. Фишетти и С. Т. Пантелидес, «Понимание средних энергий рождения электронно-дырочных пар в кремнии. и германий из полнополосного моделирования методом Монте-Карло », IEEE Trans. Nucl. Sci. 66 , 444 (2019).

[2] П. Ван, Х. Калита, А. Кришнапрасад, Д. Дев, А.О’Хара, Р. Цзян, Э. Чжан, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Т. Пантелидес и Т. Рой, «Реакция на полную ионизирующую дозу транзисторов MoS2 с затворными диэлектриками ZrO2 и h-BN», IEEE Trans. Nucl. Sci. 66 , 420 (2019).

[3] Дж. Лю и С.Т. Пантелидес, «Пироэлектрический отклик и температурно-индуцированные фазовые переходы α-β в монослоях α-III2VI3 (III = Al, Ga, In; VI = S, Se)», 2D Mater . 6 , 025000 (2019).

[4] С. М. Ноймайер, Э.А. Елисеев, М. А. Суснер, А. Целев, Б. Дж. Родригес, Дж. А. Брем, С. Т. Пантелидес, Г. Панчапакесан, С. Джесси, С. В. Калинин, М. А. Макгуайр, А. Н. Морозовская, П. Максимович, Н. Балке, «Гигантская отрицательная электрострикция и диэлектрическая проницаемость в слоистом сегнетоэлектрике Ван-дер-Ваальса ”, Phys. Rev. Mater. 3 , 024401 (2019).

[5] М. Хонг, Ю. Ван, Т. Фэн, К. Сунь, С. Сюй, С. Мацумура, С. Т. Пантелидес, Дж. Цзоу и З.-Г. Чен, “Сильные собственные фонон-фононные взаимодействия, обеспечивающие необычный термоэлектрический Ge1-xSbxTe с выравниванием зон, вызванным легированием Zn”, J.Являюсь. Chem. Soc. 141 , 1742 (2019).

[6] Z. Cheng, A. Weidenbach, T. Feng, MB Tellekamp, ​​S. Howard, MJ Wahila B. Zivasatienraj, B. Foley, ST Pantelides, LFJ Piper, W. Doolittle, S. Graham, «Diffusion» сверхнизкая теплопроводность в аморфном Nb 2 O 5 ”, Phys. Rev. Mater. 3 , 025002 (2019.

[7] M. Jin, X.-L. Ши, Т. Фэн, В. Лю, Х. Фэн, С. Т. Пантелидес, Дж. Цзян, Ю. Чен, Ю.Ду, Дж. Цзоу, З.-Г. Чен, «Сверхбольшие монокристаллы Sn1-xSe с превосходными термоэлектрическими характеристиками», ACS Appl. Матер. Интерфейсы 11 , 8051 (2019).

[8] С.-З. Ян, В.-В. Вс, Ю.-Ю. Чжан, Ю. Гонг, М. Оксли, А. Р. Лупини, П. Аджаян, М. Ф. Чизхолм, С. Т. Пантелидес, В. Чжоу, «Прямой катионообмен в монослое MoS2 через миграцию, усиленную« взрывной »рекомбинацией», Phys. Rev. Lett. 122 , 106101 (2019).

[9] X. Shi, A.Ву, Т. Фэн, К. Чжэн, В. Лю, М. Хун, К. Сунь, С. Т. Пантелидес, З.-Г. Ченг и Дж. Цзоу, «Высокие термоэлектрические характеристики поликристаллического SnSe, легированного кадмием p-типа, достигаемого комбинацией катионных вакансий и инженерии локализованной решетки», Adv. Energ. Матер. 9 , 1803242 (2019).

[10] J. A. Hachtel, S. Y. Cho, R. B. Davidson II, M. F. Chisholm, R. F. Haglund, J.-C. Идробо, С. Т. Пантелидес, Б. Дж. Лори, «Пространственно и спектрально разрешенные взаимодействия орбитального углового момента в генераторах плазмонных вихрей», Light: Science & Applications 8 , 33 (2019).

[11] Дж. Фанг, М. В. Фишетти, Р. Д. Шримпф, Э. Беллотти, С. Т. Пантелидес, «Электронно-транспортные свойства транзисторов AlxGa1-xN / GaN на основе расчетов из первых принципов и моделирования методом Монте-Карло с помощью уравнения Больцмана», Phys. Rev. Appl. 11 , 044045 (2019).

[12] М. Сагаежян, С. Кузер, З. Ван, Х. Го, Р. Цзинь, Дж. Чжан, Ю. Чжу, С. Т. Пантелидес, Э. У. Пламмер, «Определение спонтанного перемагничивания в оксиде в атомном масштабе. гетероструктуры ”, Proc.Natl. Акад. Sci. США 116 , 10309 (2019.

[13] Z. Cheng, T. Bai, J. Shi, T. Feng, Y. Wang, M. Mecklenburug, C. Li, KD Hobart, T.I Feygelson, MJ Tadjer, BB Pate, BM Foley, L. Yates , С. Т. Пантелидес, Б. А. Кола, М. Горски, С. Грэхем, «Настраиваемый перенос тепловой энергии через алмазные мембраны и границы раздела алмаз-Si с помощью наноразмерной графоэпитаксии», ACS Appl. Матер. Интер. 11 , 18517 (2019).

[14] Б.M. Hudak, W. Sun, J. Mackey, A. Sehilioglu, F. Dynys, S. T. Pantelides, B. S. Guiton, «Наблюдение квадратно-ланарного искажения в кристаллах скуттерудита, допированных лантаноидами», J. Phys. Chem. 123 , 14632 (2019).

[15] А. Д. Ойеделе, С. Ян, Т. Фенг, Ю. Гу, А. Хаглунд, А. А. Пурецки, Д. Бриггс, К. Роуло, М. Ф. Чисхолм, Р. Р. Уноцич, Д. Мандрус, Д. Б. Геохеган, С. Т. Пантелидес, К. Сяо, «Опосредованное дефектами фазовое превращение в анизотропных кристаллах 2D PdSe 2 для бесшовных электрических контактных устройств», J.Амер. Chem. Soc. 141 , 8928 (2019).

[16] Б. Р. Таттл, Т. Саммерс, К. Баргер, Дж. Нунан, С. Т. Пантелидес, «Теория фотоионизационных дефектов в нанопористых сплавах SiC», J. Appl. Phys. 125 , 215703 (2019).

[17] J. Bonacum, A. O’Hara, J.-C. Идробо, О. С. Овчинников, Р. Ф. Хаглунд, С. Т. Пантелидес, К. Болотин, “Визуализация с атомным разрешением и легирующие эффекты сложных структур в интеркалированном двухслойном графене”, Phys.Rev. Mater. 3 , 064004 (2019).

[18] К. Гао, Л. Тао, Ю.-Й. Чжан, С. Ду. S. T. Pantelides, J. C. Idrobo, W. Zhou, H.-J. Гао, «Спектроскопическая сигнатура краевых состояний в гексагональном нитриде бора», Nano Research 12 , 1663 (2019).

[19] С. Ян, П. Манчанда, Ю. Гонг, С. Т. Пантелидес, В. Чжоу, М. Ф. Чизхолм, “Электронная структура и взаимодействие кластеров РЗЭ в монослое MoS2”, Microsop. Микроанал. 25 , 506 (2019).

[20] З.-Л. Лю, Б. Лей, З.-Л. Чжу, Л. Тао, Дж. Ци, Д.-Л. Бао, X. Ву, Л. Хуанг, Y.-Y. Чжан, Х. Линь, Ю.-Л. Ван, С. Ду, С. Т. Пантелидес, Х.-Дж. Гао, “Самопроизвольное формирование одномерного рисунка в монослое VSe2 с дисперсионной адсорбцией атомов Pt для катализа HER”, Nano Lett. 19 , 4897 (2019).

[21] Р.-С. Ма, Дж. Ма, Дж. Ян, Л. Ву, Х. Лю, В. Го, С. Ван, К. Хуан, Л. Бао, С. Ду, С. Т. Пантелидес, Х. Дж. Гао, «Прямое зондирование несовершенства- индуцированная электрическая деградация в миллиметровом графене на подложках SiO 2 », 2D Mater. 6 , 045033 (2019).

[22] Х. Чен, X.-L. Чжан, Д. Ван, Д.-Л. Бао, Ю. Цюэ, В. Сяо, С. Ду, М. Оуян, С. Т. Пантелидес, Х.-Ж. Гао, «Оригами графеновые наноструктуры с атомарной точностью, нестандартные конструкции», Science 365 , 1036 (2019).

[23] Х. Го, Х. Ван, К. Цянь, Дж. Ян, Л. Бао, Х. Лу, Й. Чжан, Г. Ли, Л. Хуанг, Х. Линь, С. Ду, С. Т. Пантелидес , Х.-Дж. Гао, “Монокристаллический двухслойный графен с AB-стопкой на изолирующих подложках”, 2D Mater. 6 , 045044 (2019).

[24] Дж. Лю, С. Лю, Б. Ханрахан и С. Т. Пантелидес, «Происхождение пироэлектричества в сегнетоэлектрике HfO 2 », Phys. Rev. Appl. 12 , 034032 (2019).

[25] Х. Симс, Д. Н. Леонард, А. Ю. Биренбаум, З. Ге, Л. Ли, В. Р. Купер, М. Ф. Чисхолм, С. Т. Пантелидес, «Собственные межфазные ван-дер-ваальсовые монослои и их влияние на высокотемпературный сверхпроводник FeSe / SrTiO. 3 ”, Phys.Ред. B. 14 , 144103 (2019).

[26] М. Даргуш, X.-L. Shi, X.Q. Tran, T. Feng, F. Somidin, X. Tan, W. Liu, K. Jack, J. Венесуэла, H. Maeno, T. Toriyama, S. Matsumura, S. T. Pantelides, Z.-G. Чен, «Наблюдение на месте непрерывного фазового перехода в определении высоких термоэлектрических характеристик поликристаллического Sn 0,98 Se», J. Phys. Chem. Lett. 10 , 6512 (2019).

[27] М. Менг, З. Ван, А. Фатима, С. Гош, М.Сагаежян, Р. Цзинь, Ю. Чжу, С. Т. Пантелидес, Дж. Чжан, В. Пламмер и Х. Го, «Магнитная полярная металлическая фаза, индуцированная границей раздела в сложных оксидах», Nat. Commun. 10 , 5248 (2019).

[28] П. Ван, К. Дж. Перини, А. О’Хара, Х. Гонг, П. Ван, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Т. Пантелидес, Е. М. Фогель, «Эффекты общей ионизирующей дозы и вызванное протонами смещение повреждения. на туннельных переходах MoS 2 -межслойный-MoS2 ”, IEEE Trans. Nucl. Sci. 66 , 420 (2019).

[29] С. Боналдо, С. Е. Чжао, А. О’хара, М. Горчичко, Э. С. Чжан, С. Герардин, А. Пакканелла, Н. Валдрон, Н. Колларт, Д. Линтен, С. Т. Пантелидес, Р. А. Рид, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд, «Низкочастотный шум и дефекты, вызванные облучением полной ионизирующей дозой в 16-нм InGaAs FinFETs», IEEE Trans. Nucl. Sci. 67 , 210 ( 2019).

2018

[1] C.E. Marvinney, X. Shen, J.R. McBride, D. Critchlow, Z. Li, D.К. Мэйо, Р.Р. Му, С.Т. Пантелидес, Р.Ф. Хаглунд, “Влияние структуры материала на фотолюминесценцию нанопроволок ядро-оболочка ZnO / MgO”, Chem. Нано. Матер. 2018 (4), 1-11, 19 января 2018 г.

[2] Ю.-Н. Ву, X.-G. Чжан, С. Пантелидес, «Ву, Чжан и Пантелидес отвечают на« Фундаментальное разрешение трудностей теории заряженных точечных дефектов в полупроводниках »», Phys. Rev. Lett. 3 (120), 039604, 19 января 2018 г.

[3] Дж. Линь, Дж. Чжоу, С. Сулуага, П.Ю, З. Лю, С. Пантелидес, К. Суэнага, «Анизотропное упорядочение в слоях 1T’ дителлурида молибдена и вольфрама, легированных серой и селеном », ACS Nano 18 (1), 894-901, 23 января 2018 г.

[4] Дж. А. Hachtel, S.Y. Чо, Р. Б. Дэвидсон II, М. Ф. Чисхолм, Р.Ф. Haglund, J.C. Idrobo, S.T. Пантелидес, Б.Дж. Лори, “Получение изображений сложных плазмонных мод в ближнем поле в ближней зоне с поляризационным разрешением и разрешением по длине волны в архимедовых наноспиралях”, Opt. Lett. 4 (43), 927-930, 15 февраля 2018 г.

[5] J.C. Idrobo, A.R. Лупини, Т. Фенг, Р.Р. Уноцич, Ф.С. Walden, D.S. Gardiner, T.C. Лавджой, Н. Делби, С.Т. Пантелидес, О. Криванек, “Измерение температуры наноразмерным электронным зондом с использованием спектроскопии выигрыша и потерь энергии”, Phys. Rev. Lett. 9 (120), 095901, 2 марта 2018 г.

[6] Дж. А. Брем, Дж. Линь, Дж. Чжоу, С.Т. Пантелидес, «Индуцированный электронным пучком синтез гексагонального 1 H -MoSe4 2 из квадратного бета-FeSe, украшенного адатомами Mo», Nano Lett. 18 (3), 2016-2020, 13 марта 2018 г.

[7] W. Zhou, Y.-Y. Чжан, Дж. Чен, Д. Ли, Дж. Чжоу, З. Лю, М.Ф. Чисхолм, С. Пантелидес, К. Лох, “Дислокационный рост двумерных сверхрешеток с боковыми квантовыми ямами”, Sci. Adv. 4 (3), 9096, 23 марта 2018 г.

[8] D. L. Bao, Y.Y. Чжан, С. Пантелидес, С.-Х. Du, H.-J. Гао, «Безбарьерный процесс металлизации на поверхности молекул на основе порфирина», J. Phys. Chem. C 122 (12), 6678-6683, 29 марта 2018 г.

[9] C. D. Liang, Y. Su, A. O’Hara, E.X. Чжан, М. Аллес, П. Ван, С.Е. Чжао, С. Пантелидес, С.Дж. Кестер, Р.Д. Шримпф, Д.М. Флитвуд, «Дефекты и низкочастотный шум в облученных полевых МОП-транзисторах с черным фосфором и затворными диэлектриками HfO2», IEEE Trans. Nucl. Sci. 65 (6), 1227-1238, 19 апреля 2018 г.

[10] J. Liu, C.-Y. Лай, Ю.-Й. Чжан, М. Кьеза, С.Т. Пантелидес, «Смачиваемость графена водой: взаимодействие между межфазной структурой воды и электронной структурой», RSC Adv. 8, 16918, 8 мая 2018 г.

[11] Б. М. Худак, Дж. Сонг, Х. Симс, М.С. Тропаревский, С. Pantelides, P.C. Снайдерс, А. Лупини, «Направленная атомная сборка примесей в кремнии», ACS Nano 12 (6), 5873-5879, 11 мая 2018 г.

[12] Дж. Лю, С. Т. Пантелидес, “Механизмы пироэлектричества в трехмерных и двумерных материалах”, Phys. Rev. Lett. 120 (20), 207602, 17 мая 2018 г.

[13] Б. Сю, Т. Фэн, З. Ли, С. Т. Пантелидес, Ю.Ву, «Создание высокопористых термоэлектрических монолитов с высокими характеристиками и улучшенной переносимостью из синтезированных в растворе нанокристаллов с контролируемой формой», Nano Lett. 18 (6), 4034-4039, 28 мая 2018 г.

[14] Г. Меттела, С. Кузер, С. Соу, С. Т. Пантелидес и Г. У. Кулькарни, «Благороднее благороднейшего: некубические микрокристаллиты золота», Angew. Chem. Int. Эд. DOI: 10.1002 / anie.201804541, 30 мая 2018 г.

[15] S. Zuluaga, J. Lin, K. Suenaga, S.T.Пантелидес, «Двумерные переходы PdSe2-Pd2Se3 могут служить в качестве нанопроволок», 2D Mater . 5 (3), 035025, 1 июня 2018 г.

[16] Дж. Уилан, М. Кациотис, С. Стивен, Г. Лукачан, А. Таралекшми, Д. Бану, Ж.-К. Идробо, С. Пантелидес, Р. Владеа, И. Бану, С. Аль-Хассан, «Однослойные кобальт-молибденовые нанокатализаторы, декорированные на углеродных нанотрубках, и влияние условий приготовления на их каталитическую активность гидрообессеривания», Energy Fuels , 19 июня 2018 г.

[17] Х. Чен, Й. Цюэ, Л. Тао, Й.Й. Чжан, В. Сяо, Д. Ван, С.-Х. Пыль. Пантелидес, Х.-Дж. Гао, “Восстановление краевых состояний графеновых наноостровков на металлической подложке интеркаляциями кремния”, Nano Res. 11 (7), 3722-3729, 1 июля 2018 г.

[18] В. Цициос, К. Димос, С. Альхассан, А. Кулумпис, Д. Гурнис, Н. Букос, Р. Михра, М. Ролдон, Ж.-К. Идробо, С. Пантелидес, А. Борисевич, М. Каракасидес, Дж. Басина, Й. Альвахеди, Х. Дж. Ким, М. Фардис, С. Пенникук, Г.Папавасилеу, «Быстрый рост MoS2 на восстановленном оксиде графена жидкофазным методом», Front. Матер. 5 (29), 2 июля 2018 г.

[19] Н. Балке, С. М. Ноймайер, Дж. А. Брем, М. А. Суснер, Б. Дж. Родрикес, С. Джесси, С. В. Калинин, С. Т. Пантелидес, М. А. Макгуайр и П. Максимович, «Локально контролируемый перенос ионов Cu в слоистом сегнетоэлектрике CuInP . 2 S 6 ”, ACS Appl. Матер. Интерфейсы 10 (32), 27188-27194, 23 июля 2018 г.

[20] Н.Хо, Янь Ю., Я.-Н. Ву, X.-G. Чжан, С. Т. Пантелидес, Г. Константатос, «Высокая подвижность носителей в однослойном CVD-выращенном MoS2 за счет подавления фононов», Nanoscale 2018, 15071-15077, 24 июля 2018 г.

[21] Х. Чен, Д.-Л. Бао, Д. Ван, Ю. Цюэ, В. Сяо, Г. Цянь, Х. Го, Дж. Сунь, Ю.-Й. Чжан, С. Ду, С.Т. Пантелидес, Х.-Дж. Гао, “Изготовление монокристалла миллиметрового гидрированного на одну треть графена с анизотропными свойствами”, Adv. Матер. 30 (32), 1801838, 6 августа 2018 г.

[22] B. Xu, T. Feng, X. Li, S.T. Пантелидес, Ю. Ву, «Создание разрывов разрывов Ван-дер-Ваальса в виде застежки-молнии в наноструктурированном PbBi2nTe1 + 3n, подвергнутом низкотемпературной обработке, для усиления рассеяния фононов и улучшения термоэлектрических характеристик», Angew. Chem. Int. Эд. 57 (34), 10938-10943, 20 августа 2018 г.

[23] Дж. Лю и С. Т. Пантелидес, «Электросмачивание двумерных диэлектриков: исследование квантовой молекулярной динамики «, J. of Phys. Cond. Иметь значение. 30 (37), 375001, 22 августа 2018 г.

[24] Дж. Лю и С. Т. Пантелидес, «Анизотропное тепловое расширение монохалькогенидных монослоев группы IV», Appl. Phys. Exp. 11 (10), 101301, 28 августа 2018 г.

[25] R. Jiang, S. Xhen, J.T. Фэн, П. Ван, Э. Чжан, Дж. Чен, Д.М. Флитвуд, Р.Д. Шримпф, С.В. Каун, E.C.H. Кайл, Дж. Спек С.Т. Пантелидес, «Множественные дефекты вызвали деградацию после высокого напряжения поля в AlGaN / GaN HEMTs», IEEE Trans. Device Mater. Ред. 18 (3), 364-376, 1 сентября 2018 г.

[26] Дж. Лю, О. Б. Вани, С. М. Альхассан, С. Т. Пантелидес, «Изменение смачиваемости и повышение нефтеотдачи, вызванные проксимальной адсорбцией ионов Na + , Cl-, Ca 2 T и SO42- на кальцит », Phys. Rev. Appl. 10 (3), 034064, 27 сентября 2018 г.

[27] О.С. Овчинников, А. О’Хара, Р. Николл, К. Болотин, Дж. Хахтель, А. Люпин, С. Джесси, А.Ю. Борисевич, С.Т. Пантелидес, С.В. Калинин, «Теоретическое определение наночастиц. -колебание в изображениях с атомным разрешением двухслойного графена с рассогласованием по углам ”, 2D Mater. 5 (4), 041008, 7 сентября 2018 г.

[28] Г. Санчес-Сантолино, Дж. Салафранка, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук, К. Леон и М. Варела, «Локализация сегрегации иттрия в ядрах дислокации границ зерен YSZ», Phys. Статус Solidi A 215 , 1800349, 10 октября 2018 г.

[29] L. Tao, W. Guo, Y.-Y. Чжан, Ю.-Ф. Чжан, С. Ду, С.Т. Пантелидес, Х.-Дж. Гао, «Квантовый щелкунчик для диссоциации водорода при температуре, близкой к комнатной», Science Bulletin 64 , 4, 15 ноября 2018 г.

[30] Э. Ши, Т. Фэн, Ж.-Х. Бахк, Ю. Пан, В. Чжэн, З. Ли, Г. Дж. Снидр, С. Т. Пантелидес, «Экспериментальное и теоретическое исследование хорошо настраиваемого легирования наноразмерных оксидов металлов в высокоэффективные термоэлектрики», Energ. Environ. Sci. 2 , 43, 14 ноября 2018 г.

[31] Дж. Чжу, Т. Фэн, С. Миллс, П.-П. Ван, Х. В. Ву, Л. Чжан, С. Т. Пантелидес, Х. Ду и Х. Ван, “Рекордно низкая и анизотропная теплопроводность квазиодномерного объемного монокристалла ZrTe5”, ACS Appl.Матер. Интерфейсы 10 , 40740, 28 ноября 2018 г.

[32] Y. Cao, Y.-F. Чжан, Л. Хуан, Дж. Ци, К. Чжан, Х. Линь, З. Ченг, Я.-Й. Zhang, X. Feng, S. Du, S. T. Pantelides, H.-J. Гао, “Настройка морфологии графеновых нанолент шевронного типа путем выбора температуры отжига”, Nano Res. 11 , 6190, 1 декабря 2018 г.

[33] Г. Ли, Л. Чжан, В. Сю, С. Сун, Ю. Чжан, Х. Чжоу, Ю. Ван, Л. Бао, Ю.-Й. Чжан, С. X. Ду, С. Т. Пантелидес, Х.-J. Гао, «Стабильный силикон в гетероструктуре Ван-дер-Ваальса графен / силикон», Adv. Матер. 30 , 1804650, 6 декабря 2018 г.

[34] П. Ван, С. Дж. Перини, А. О’Хара, Х. Гонг, П. Ван, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Т. Пантелидес и Е. М. Фогель, «Эффекты общей ионизирующей дозы и смещение, индуцированное протонами. повреждение туннельных переходов MoS2-межслойный-MoS2 », IEEE Trans. Nucl. Sci. , онлайн, 7 декабря 2018 г.

[35] С. З. Ян, Я. Гонг, П.Манчанда, Ю.-Й. Чжан, Г. Е., С. Т. Пантелидес, П. М. Аджаян, М. Ф. Чизолм, В. Чжоу, «Легированный рением и стабилизированный атомный слой MoS 2 с каталитической активностью в базисной плоскости», Adv. Матер. 30 , 1803477, 20 декабря 2018 г.

[36] EA Hernandez-Pagan, A. O’Hara, SL Arrowood, JR McBride, J. Rhodes, ST Pantelides, JE Macdonald, «Трансформация анионной подрешетки при катионообменном синтезе Au2S из Cu2S», Chem.Матер. 30 , 88438851, 26 декабря 2018 г.

2017

[1] EX Zhang, DM Fleetwood, JA Hachtel, C. Liang, RA Reed,
ML Alles, RD Schrimpf, D. Linten, J. Mitard, MF Chisholm и ST Pantelides, «Влияние общей ионизирующей дозы на напряженный Ge pMOS FinFETs на массивном Si », IEEE Trans. Nucl. Sci. 64 (1), 226-232, январь 2017 г.

[2] R. Jiang, E. X. Zhang, M. W. McCurdy, J. Chen, X. Shen, P. Wang, D. M. Fleetwood, R.Д. Шримпф, С. В. Каун, Э. К. Х. Кайл, Дж. С. Спек и С. Т. Пантелидес, «Смещение наихудшего случая для протонного и рентгеновского облучения 10 кэВ HEMTs AlGaN / GaN», IEEE Trans. Nucl. Sci. 64 (1), 218-225, январь 2017 г.

[3] Дж. Чжоу, Ф. Лю, Дж. Линь, X. Хуанг, Дж. Ся, Б. Чжан, К. Цзэн, Х. Ван, К. Чжу, Л. Ню, X. Ван, В. Fu, P. Yu, TR Chang, CH Hsu, D. Wu, HT Jeng, Y. Huang, H. Lin, Z. Shen, C. Yang, L. Lu, K. Suenaga, W. Zhou, ST Pantelides, Г. Лю, З. Лю, “2D теллурид переходных металлов с большой площадью и высокое качество”, Adv.Матер. 29 (3), 1 января 2017 г.

[4] Х. Олдридж, А. Г. Линд, К. К. Бомбергер, Ю. Пузырев, Дж. М. Зиде, С. Т. Пантелидес, М. Э. Лоу, “Стратегии легирования N-типа для InGaAs”, Матем. Sci. в Semicon. Proc. 62, 171-179, 4 января 2017 г.

[5] Б. Р. Таттл, Н. Дж. Хелд, Л. Х. Лам, Й.-Й. Чжан, С. Т. Пантелидес, «Свойства гидрированного нанопористого SiC: исследование ab initio», J. Nanomater. 2017, 10 января, 2017.

[6] А. Д. Ла Круа, А. О’Хара, К. Р. Рейд, Н. Дж. Орфилд, С.Т. Пантелидес, С. Дж. Розенталь, Дж. Э. Макдональд, «Дизайн лиганда, улавливающего дырку», Nano Lett. 17 (2), 909-914, 19 января 2017 г.

[7] Л. Хуанг, Ю.-Ф. Чжан, Ю.-Й. Zhang, W. Xu, Y. Que, E. Li, J. B. Pan, Y. L. Wang, Y. Liu, S.-X. Du, S. T. Pantelides, H.-J. Гао, “Последовательность выращивания монослойных структур кремния на поверхности Ru: от структуры в елочку до силицена”, Nano Lett. 17 (2), 1161-1166, 23 января 2017 г.

[8] Б. Р. Таттл, С. Т. Пантелидес, «Свойства изолированных оборванных связей на гидрированных поверхностях 2H-SiC», Surf.Sci. 656, 109-114, 28 февраля 2017 г.

[9] S. Xu, X. Shen, K. A. Hallman, R. F. Haglund Jr., S. T. Pantelides, “Единое теоретико-зонное описание структурных, электронных и магнитных свойств фаз диоксида ванадия”, Phys. Ред. B 95 (12), 125105, 6 марта 2017 г.

[10] G. Wang, L. Bao, R. Ma, T. Pei, Y.-Y. Чжан, Л. Ву, З. Чжоу, Х. Ян, Дж. Ли, К. Гу, С. Ду, С. Т. Пантелидес, Х.-Ж. Гао, «От двунаправленного выпрямителя к транзистору с контролируемой полярностью на черном фосфоре путем модуляции двойного затвора», 2D Mater.4 (2), 025056, 24 марта 2017 г.

[11] A. O’Hara, R.E. Kahn, Y.-Y. Чжан, С. Т. Пантелидес, «Опосредованная дефектами утечка в двухслойном графеме, интеркалированном литием», AIP Adv. 7 (4), 045205, апрель 2017 г.

[12] Б. Таттл, С. Альхассан, С.Т. Пантелидес, «Вычислительные прогнозы для одномерных материалов на основе халькогенидов с однократным изменением», Наноматериалы 7 (5), 115, 17 мая 2017 г.

[13] Дж. Х. Янг, Ю. М. Ким, К. Хе, Р. Мишра, Л. Цяо, М. Д. Бегальский, А. Р. Лупини, С.Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук, С. В. Калинин, А. Ю. Борисевич, «Наблюдение in-situ динамики кислородных вакансий и упорядочения в эпитаксиальной системе LaCoO3», ACS Nano 11 (7), 11 июня 2017 г.

[14] X. Lin, J.C. Lu, Y. Shao, Y.-Y. Чжан, X. Ву, Дж. Б. Пан, Л. Гао, С. Ю. Чжу, К. Цянь, Ю.-Ф. Чжан, Д.-Л. Бао, Л. Ф. Ли, Ю. К. Ван, З. Л. Лю, Дж. Т. Сан, Т. Лей, К. Лю, Дж. О. Ван, К. Ибрагим, Д. Н. Леонард, В. Чжоу, Х. М. Го, Ю.-Л. Ван, С.-Х. Du, S. T. Pantelides, H.-J. Гао, “Двумерные материалы с внутренней структурой для селективной адсорбции молекул и нанокластеров”, Nat.Матер. 16, 717-721, 12 июня 2017 г.

[15] Х. Го, З. Ван, С. Донг, С. Гош, М. Сагаежян, Л. Чен, Ю. Вен, А. Херклотц, Т. З. Уорд, Р. Джин, С. Т. Пантелидес, Ю. Чжу, Дж. Чжан, Э. У. Пламмер, «Мультиферроизм, индуцированный границей раздела в сложных оксидных сверхрешетках», P. Natl. Акад. Sci. USA 114 (26), E5062-E5062, 27 июня 2017 г.

[16] Д. Фу, X. Чжао, Y.-Y. Чжан, Л. Ли, Х. Сю, А. Р. Джанг, С. И. Юн, П. Сон, С. М. По, Т. Рен, З. Дин, В. Фу, Т. Дж. Шин, Х. С. Шин, С.Т. Пантелидес, В. Чжоу, К. П. Ло, «Молекулярно-лучевая эпитаксия высококристаллического монослойного дисульфида молибдена на гексагональном нитриде бора», J. Am. Chem. Soc. 139 (27), 9392-9400, 3 июля 2017 г.

[17] J. Lin, S. Zuluaga, P. Yu, Z. Liu, S. T. Pantelides, K. Suenaga, “Новая двумерная фаза Pd2Se3, вызванная межслоевым синтезом в слоистом PdSe2”, Phys. Rev. Lett. 119 (1), 016101, 6 июля 2017 г.

[18] Х. Чен, Т. Поуп, З. Ву, Д. Ван, Л. Тао, Д.-Л. Бао, В. Сяо, Ж.-Л.Чжан, Ю.-Й. Чжан, С.-Х. Du, S. Gao, S. T. Pantelides, W. A. ​​Hofer, H.-J. Гао, “Свидетельства колебаний сверхнизких энергий в больших органических молекулах”, Nano Lett. 17 (8), 4929, 9 августа 2017 г.

[19] HD Ю, Ю. Лян, Х. Донг, Дж. Лин, Х. Ван, Ю. Лю, Л. Ма, Т. Ву, Ю. Ли, К. Ру, Ю. Цзин, К. Ан , W. Zhou, J. Guo, J. Lu, ST Pantelides, X. Qian, Y. Yao, “Быстрая кинетика катионов монохлорида магния в дисульфиде титана с межслойным расширением для перезаряжаемых аккумуляторов магния”, Nat.Commun. 8 (1), 339, 24 августа 2017 г.

[20] S. Zuluaga, P. Manchanda, Y.-Y. Чжан, С. Т. Пантелидес, «Разработка оптимально стабильных молекулярных покрытий для наночастиц на основе Fe в водных средах», ACS Omega 2 (8), 4480, 31 августа 2017 г.

[21] Ю.-Н. Ву, X.-G. Чжан, С. Т. Пантелидес, “Фундаментальное решение трудностей теории заряженных точечных дефектов в полупроводниках”, Phys. Rev. Lett. 119 (10), 105501, 7 сентября 2017 г.

[22] Р. Ма, К. Хуан, Л.Ву, Дж. Ян, В. Го, Ю.-Й. Чжан, С. Ван, Л. Бао, Ю. Лю, С.-Х. Du, S. T. Pantelides, H.-J. Гао, “Прямое четырехзондовое измерение сопротивления и подвижности границ зерен в графене миллиметрового размера”, Nano Lett. 17 (9), 5291-5296, 13 сентября 2017 г.

[23] Ю.-Ф. Чжан, Ю. Чжан, Г. Ли, Дж. Лу, Ю. Цюэ, Х. Чен, Р. Бергер, X. Фэн, К. Маллен, X. Линь, Y.-Y. Чжан, С. Ду, С. Т. Пантелидес, Х.-Ж. Гао, “Легированные серой графеновые наноленты с последовательностью четко выраженных запрещенных зон”, Nano Res. 10 (10), 3377-3384, 1 октября 2017 г.

[24] П. Ван, К. Перини, А. О’Хара, Б.Р. Таттл, Э. Чжан, Х. Гонг, Ч. Лян, Р. Цзян, В. Ляо, Д.М. Флитвуд, Р.Д. Шримпф, Э.М. Фогель, С.Т. Пантелидес, «Радиационно-индуцированный захват заряда и низкочастотный шум графеновых транзисторов», IEEE T. Nucl. Sci. PP (99), 10 октября 2017 г.

[25] Ю.С. Пузырев, X. Шен, C.X. Чжан, Дж. Хачтель, К. Ни, Б.К. Чой, Э. Чжан, Овчинников О., Шримпф Р. Флитвуд, С. Пантелидес, “Мемристивные устройства из пучков и сеток нанопроволок ZnO”, Прикл.Phys. Lett. 111 (15), 153504, 13 октября 2017 г.

[26] С. Гош, А.Ю. Борисевич, С. Пантелидес, “Создание сегнетоэлектрической сверхрешетки из металлических компонентов”, Phys. Rev. Lett. 119 (17), 177603, 25 октября 2017 г.

[27] S. May, S.T. Пантелидес, «Структурное« дельта-легирование »октаэдрических поворотов для создания локальной намагниченности в изовалентных сверхрешетках манганита», Phys. Rev. Lett. 119 (19), 197204, 8 ноября 2017 г.

[27] С. Прабхакар, Дж. Лю, Я.-Й. Чжан, С.Т. Пантелидес, «Атомно-масштабная теория изменения смачиваемости кальцитовых нефтяных скважин добавками в морской воде», Soc. Бензин. Англ. J., 13 ноября 2017.

[28] Дж. А. Сантана, Р. Мишра, Дж. Т. Крогель, А. Борисевич, P.R.C. Кент, С. Пантелидес, Ф.А. Реборедо, «Квантовые многочастичные эффекты в сверхрешетках дефектных оксидов переходных металлов», J. Chem. Теория вычисл. 13 (11), 5604-5609, 14 ноября 2017 г.

[29] Дж. Сонг, Б.М. Худак, Х.Р. Симс, Ю. Шарма, Т.З. Уорд, С. Пантелидес, А.Р. Лупини, П.С. Снайдерс, «Гомо-эндотаксиальные одномерные нанопроволоки Si», Nanoscale 10 (1), 260-267, 29 ноября 2017 г.

[30] X. Zhao, D. Fu, Z. Ding, Y.-Y. Чжан, Д. Ван, С.Дж. Тан, З. Чен, К. Ленг, Дж. Дан, В. Фу, П. Сонг, Ю. Ду, Т. Венкатесан, С.Т. Пантелидес, С.Дж. Pennycook, W. Zhou, K.P. Ло, “Реконструкции кромок с концевыми группами Mo в нанопористой пленке дисульфида молибдена”, Nano Lett. 18 (1), 482-490, опубликовано онлайн 18 декабря 2017 г.

2016

[1] Ю.Пузырев, X. Шен, С. Т. Пантелидес, “Прогноз гигантского термоэлектрического КПД в кристаллах с чересстрочной наноструктурой”, Nano Lett. 16, 212-125, января 2016 г.

[2] Т. Кишида, М. Д. Капетанакис, Дж. Ян, Б. С. Сэйлс, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук и М. Ф. Чизхолм, «Магнитное упорядочение в Sr3YCo4O10 + x», Sci. Отчет 6, 19762, 28 января 2016 г.

[3] GL Ye, Y. Gong, J. Lin, B. Li, YM He, ST Pantelides, W. Zhou, R. Vajtai и PM Ajayan, «Дефекты сконструированы монослоем MoS2 для улучшения реакции выделения водорода», Nano Lett.16, 1097-1103, февраль 2016 г.

[4] Дж. Лин, Ю. Ю. Чжан, В. Чжоу и С. Т. Пантелидес, «Структурная гибкость и легирование в ультратонких халькогенидных нанопроволоках переходных металлов», ACS Nano, 10, 2782-2790, февраль 2016 г.

[5] Т. Пей, Л. Бао, Г. Ван, Р. Ма, Х. Ян, Дж. Ли, К. Гу, С. Т. Пантелидес, С. Ду и Х. Гао, «Мало-слойные транзисторы SnSe2. с высокими коэффициентами включения / выключения », Прил. Phys. Lett. 108, 053506, 1 февраля 2016 г.

[6] А. Лич, Х. Шен, А. Фауст, М. К. Кливленд, А.Д. Ла Круа, У. Банин, С. Т. Пантелидес и Дж. Э. Макдональд, «Люминесценция дефектов нанокристаллов вюрцита CuInS2: комбинированный экспериментальный и теоретический анализ», J.Phys. Chem. C. 120, 5207-5212, 10 марта 2016 г.

[7] J. Hachtel, S. Yu, AR Lupini, ST Pantelides, M. Gich, A. Laromaine и A. Roig «Золотые нанотреугольники, украшенные суперпарамагнитными наночастицами оксида железа: исследование состава и микроструктуры», Faraday Discussions, 191, 215-227, 11 марта 2016 г.

[8] Дж.Газкес, Р. Гусман, Р. Мишра, Э. Бартоломе, Дж. Салафранка, К. Маген, М. Варела, М. Колл, А. Палау, С. М. Вальвидарес, П. Гаргиана, Э. Пеллегрин, Х. Эрреро-Мартин , SJ Pennycook, ST Pantelides, T. Puig и X. Obradors, «Возникновение разбавленного ферромагнетизма в высокотемпературных сверхпроводниках, обусловленное кластерами точечных дефектов», Adv. Sci. 3, 15 марта 2016 г.

[9] Я. Гонг, Г. Е, С. Лей, Г. Ши, Й. Хе, Дж. Лин, Х. Чжан, Р. Вайтай, С. Т. Пантелидес, В. Чжоу, Б. Ли и П. Аджаян , «Синтез монокристаллов дихалькогенидов переходных металлов миллиметрового размера», Adv.Funct. Мат. 26 марта 2009-2015 гг., 22 марта 2016 г.

[10] С. Мукерджи, Ю. Пузырев, Дж. Чен, Д. Флитвуд, Р. Шримпф и С. Т. Пантелидес, «Деградация горячих носителей в GaN HEMT из-за замещающего железа и его комплексов», IEEE Trans. Elec. Dev. 63, 1486-1494, апрель 2016 г.

[11] X. Li, M. Lin, J. Lin, B. Huang, AA Puretzky, C. Ma, K. Wang, W. Zhou, ST Pantelides, M. Chi, I. Kravchenko, J. Fowlkes, К. Роуло, Д. Геохеган и К. Сяо, “Двумерные двухслойные гетеропереходы GaSe / MoSe2 с несоответствием методом ван-дер-ваальсовой эпитаксии”, Научные науки.Adv. 2, e1501882, 15 апреля 2016 г.

[12] J. Hachtel, C. Marvinney, A. Mouti, D. Mayo, R. Mu, SJ Pennycook, AR Lupini, MF Chisholm, RF Haglund и ST Pantelides, «Исследование плазмонов в трех измерениях путем комбинирования дополнительных спектроскопий. в растровом просвечивающем электронном микроскопе », Нанотех. 27, 155202, 15 апреля 2016 г.

[13] Х. Хе, Дж. Линь, В. Фу, X. Ван, Х. Ван, К. Цзэн, К. Гу, Йи Ли, К. Ян, Б. К. Тай, К. Сюэ, X. Ху, С.Т. Пантелидес, В. Чжоу, З.Лю, “Гетероструктура MoS2 / TiO2 с ребром для эффективного фотокаталитического выделения водорода”, Adv. Energy Mater. 6 мая 2016 г., 1600464.

[14] Дж. Чен, Ю. Пузырев, Э. Чжан, Д. Флитвуд, Р. Шримпф, А. Арехарт, С. Рингель, С. Каун, Э. Кайл, Дж. Спек, П. Сонье, К. Ли и С.Т. Пантелидес, «Напряжение в сильном поле, низкочастотный шум и долговременная надежность AlGaN / GaN HEMT», IEEE Trans. Device Mater. Отн. 16, 282-289, 15 июня 2016 г.

[15] Р. Цзян, Х. Шен, Дж. Чен, Г.X. Дуан, E. X. Чжан, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. В. Каун, Э. К. Х. Кайл, Дж. С. Спек и С. Т. Пантелидес, «Эффекты деградации и отжига, вызванные кислородом в транзисторах AlGaN / GaN с высокой подвижностью электронов», Appl. Phys. Lett. 109, 023511, 13 июля 2016 г.

[16] Р. Мишра, Ю. Ким, К. Хе, X. Хуанг, С.К. Ким, М. Суснер, А. Бхаттачарья, Д. Д. Фонг, С. Т. Пантелидес, А. Борисевич, “К спин-поляризованному двумерному электронному газу на поверхности антиферромагнитного изолирующего оксида”, Phys.Ред. B. 94, 045123, 18 июля 2016 г.

[17] К. Хе, С. Гош, Э. Дж. Мун, С. Дж. Мэй, А. Р. Лупини, С. Т. Пантелидес и Альбина Ю. Борисевич, «Отслеживание связи BO6 в перовскитных сверхрешетках с поведением инженеров на магнитной границе», Microsc. Микроанал., 22, 904-905, 25 июля 2016 г.

[18] Х. Олдридж, А. Линд, К. Бомбергер, Ю. Пузырев, К. Хатем, Р. Г. Уильям, Дж. М. О. Зид, С. Т. Пантелидес, М. Лоу и К. Джонс, «Имплантация и диффузия слоев кремниевых маркеров. в In0.53Ga0.47As ”, J. Electr. Мат. 45, 4282-4287, август 2016 г.

[19] Ф. Лю, Л. Ю, К. Л. Сейлер, Х. Ли, П. Ю, Дж. Линь, X. Ван, Дж. Чжоу, Х. Ван, Х. Хе, С. Т. Пантелидес, В. Чжоу, P. Sharma, X. Xu, PM Ajayan, J. Wang и Z. Liu, «Сегнетоэлектричество при комнатной температуре в ультратонких хлопьях CuInP2S6», Nature Comm. 7, 12357, 11 августа 2016 г.

[20] X. Shen, T. J. Pennycook, D. Hernandez-Martin, A. Pérez, Y. Puzyrev, Y. Liu, S. G. E. te Velthuis, J. W. Freeland, P. Shafer, C. Zhu, M.Варела, К. Леон, З. Сефриуи, Дж. Сантамария и С. Т. Пантелидес, «Мемристивное переключение двухслойного манганита / купрата с высоким коэффициентом включения / выключения с помощью межфазного магнитоэлектричества», Adv. Мат. Интерф. 3, 1600086, 19 августа 2016 г.

[21] X. Шен, Ю. С. Пузырев, С. Комбс, С. Т. Пантелидес, “Изменчивость структурных и электронных свойств объемного и монослоя Si2Te3”, Appl. Phys. Lett. 109, 113104, 13 сентября 2016 г.

[22] М. Дж. Туро, X. Шен, Н. К. Брэндон, С. Кастильо, А. М.Фолл, С. Т. Пантелидес и Дж. Э. Макдональд, «Двухмодовая кристаллическая пассивация и пассивация X-типа квантовых точек», Chem. Comm. 52, 12214-12217, 16 сентября 2016 г.

[23] W. Zheng, J. Lin, W. Feng, K. Xiao, Y. Qiu, ST Pantelides, W. Zhou, XS Chen, G. Liu, W. Cao и PA Hu, «Узорчатый рост Атомные слои MoS2 p-типа с использованием золь-геля в качестве прекурсора », Adv.Funct. Мат. 26, 6371-6379, 19 сентября 2016 г.

[24] Ю. Ву, Х. Чжан и С. Т. Пантелидес, «Расчеты из первых принципов раскрывают принципы управления подвижностью носителей в полупроводниках», Semicond.Sci. Technol. 31, 115016 11 октября 2016 г.

[25] Х. Олдридж-младший, А. Г. Линда, К. К. Бомбергер, Ю. Пузырев, Дж. М.О. Зиде, С. Т. Пантелидес, М. Е. Лоу, Кевин С. Джонс, «Стратегии легирования N-типа для InGaAs», Материаловедение в обработке полупроводников, 57, 39-47, 19 октября 2016 г.

[26] К. Инь, Y-Y. Чжан, Ю. Чжоу, Л. Сан, М. Ф. Чизхолм, С. Т. Пантелидес и В. Чжоу, «Неподдерживаемые монослои оксида меди толщиной в один атом», 2D Mater., 4, 011001, 20 октября 2016 г.

[27] Л.Чен, Ю.Ю. Чжан, Т.Дж. Пенникук, Ю. Ву, А. Р. Лупини, Н. Паудель, С. Т. Пантелидес, Ю. Ян и С. Дж. Пенникук, «Последовательное наблюдение движения дислокаций в CdTe: динамическая сканирующая просвечивающая электронная микроскопия», Прил. Phys. Lett. 109, 143107, 24 октября 2016 г.

[28] G. Wang, L. Bao, T. Pei, R. Ma, Y. Y. Zhang, L. Sun, Guangyu Zhang, H. Yang, J. Li, S. Gu, S. Du. С. Т. Пантелидес, Р. Д. Шримпф и Х.- Дж. Гао, «Введение межфазных зарядов в черный фосфор для семейства плоских устройств», Nano Lett.16, 6870-6878, 27 октября 2016 г.

[29] М. Д. Капетанакис, М. П. Оксли, В. Чжоу, С. Дж. Пенникук, Ж.-К. Идробо и С. Т. Пантелидес, «Сигнатуры различных примесных конфигураций в спектроскопии потерь энергии валентных электронов с атомным разрешением: приложение к графену» Phys. Ред. B. 94, 155449, 31 октября 2016 г.

[30] Г. X. Дуан, Дж. А. Хахтель, Э. X. Чжан, К. X. Чжан, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, Р. А. Рид, Дж. Митард, Д. Линтен, Л. Виттерс, Н. Колларт, А. Мокута, А.В.-Ю. Теан, М. Ф. Чисхолм и С. Т. Пантелидес, «Влияние нестабильности температуры отрицательного смещения на низкочастотный шум в SiGe pMOSFET», IEEE Trans. Device Mater. Rel, 16, 541-548, декабрь 2016.

2015

[1] W. Zhou, K. Yin, C. Wang, Y. Zhang, T. Xu, A. Borishevich, L. Sun, JC Idrobo, M. Chisholm, ST Pantelides, R. Klie, and A. Lupini. , «Наблюдение за квадратным льдом в графене под вопросом», Nature (в печати, декабрь 2015 г.).

[2] Р. Николл, Х.Конли, Н. Лаврик, И. Влассюк, Ю. Пузырев, В. Парси Сринивас, С. Т. Пантелидес и Кирилл И. Болотин, «Влияние внутреннего смятия на механику отдельно стоящего графена», Nature Comm., 6, 8789, (2015).

[3] Y. Wang, L. Li, W. Yao, S. Song, J. T. Sun, J. Pan, X. Ren, C. Li, E. Okunishi, Y.-Q. Wang, E. Wang, Y. Shao, Y. Y. Zhang, H.-T. Янг, Э. Ф. Швир, Х. Ивасава, К. Шимада, М. Танигучи, З. Ченг, С. Чжоу, С. Ду, С. Дж. Пенникук, С. Т. Пантелидес и Х.-Дж. Гао, “Монослой PtSe2, новый полупроводниковый дихалькогенид переходного металла, эпитаксиально выращенный путем прямой селенизации Pt”, Nano Lett., 15, 4013-4018, (2015).

[4] X Shen, K Yin, YS Puzyrev, Y Liu, L Sun, RW Li, ST Pantelides, “2D нановаристоры на границах зерен учитывают мемристивное переключение в поликристаллическом BiFeO 3 , Adv. Электрон. Матер. 1 (5) 2015.

[5] Л. Пань, Ю. Цюэ, Х. Чен, Д. Ван, Дж. Ли, К. Шен, В. Сяо, С. Ду, Х. Гао и С. Т. Пантелидес, «Комнатная температура, низкая -барьерное легирование графена бором ”, Nano Lett., 15, 6464-6468, (2015).

[6] X. Lu, M. Utama, J. Lin, X.Лу, Ю. Чжао, Дж. Чжан, С. Т. Пантелидес, В. Чжоу, С. Куек и В. Сюн, «Быстрая и неразрушающая идентификация политипизма и последовательностей укладки в многослойном диселениде молибдена с помощью рамановской спектроскопии», Adv. Матем., 27, 4502-4508, (2015).

[7] Дж. Лин, С. Т. Пантелидес, В. Чжоу «Образование и рост инверсионных доменов в монослое дихалькогенидов переходных металлов, вызванное вакансиями», ACS Nano, 9, 5189–5197 (2015).

[8] Ю.С. Пузырев, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд, С.Т. Пантелидес, “Роль примесных комплексов Fe в деградации транзисторов GaN / AlGaN с высокой подвижностью электронов”, Applied Physics Lett., 106, 053505 (2015).

[9] X. Шен, С. Дхар и С. Т. Пантелидес, «Атомное происхождение высокотемпературного захвата электронов в устройствах металл-оксид-полупроводник», Appl. Physics Lett, 106, 143504, (2015).

[10] Ю. Чжан, Р. Мишра, Т. Дж. Пенникук, А. Ю. Борисевич, С. Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, «Кислородное расстройство, способ приспособить большие эпитаксиальные штаммы
в оксидах», Adv.Мат. Интерфейсы, опубликовано в сети 22 сентября 2015 г.

[11] С. Дж. Пенникук, В. Чжоу и С. Т. Пантелидес, «Наблюдение за работой атомов: структура и динамика нанокластеров», ACS Nano, 10, 9437-9440 (2015).

[12] Дж. Хахтель, Р. Сачан, Р. Мишра и С. Т. Пантелидес, «Основы количественной теории межфазного поглощения в многослойных гетероструктурах», Appl. Phys. Lett., 107, 0, (2015).

[11] Q. Qiao, Y. Zhang, R. Contreras-Guerrero, R. Droopad, S.T. Pantelides, S.Дж. Пенникук, С. Огут и Р. Ф. Кли, «Прямое наблюдение поляризации, усиленной кислородными вакансиями, в сегнетоэлектрической пленке BaTiO3 с буфером SrTiO3 на GaAs», Прил. Physics Lett., 107, 201604 (2015).

[12] Ю. Чжан, Р. Мишра, Т. Дж. Пенникук, А. Ю. Борисевич, С. Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, «Кислородный дисордант, способ аккомодации больших эпитаксиальных напряжений в оксидах», Adv. Матер. Interf., Опубликовано на сайте 23 сентября 2015 г.

[13] X. Шен, Ю. Пузырев, Д. Флитвуд, Р. Шримпф, С.Т. Пантелидес, “Квантово-механическое моделирование динамики радиационных дефектов в электронных устройствах”, IEEE Trans. на Nuc. Sci., 5, 2169-2180, (2015).

[14] М. Капетанакис, У. Чжоу, М. Оксли, Дж. Ли, М. Прейндж, С. Пенникук, Дж. К. Идробо и С. Т. Пантелидес, «Спектроскопия потерь энергии электронов с низкими потерями: дополнение к оптическим технологиям с атомным разрешением. спектроскопия и приложения к графену ”, Phys. Ред. B, 92, 125147, (2015).

[15] Дж. А. Хачтель, К. Марвинни, А. Мути, Д.Мэйо, Р. Му, С. Дж. Пенникук, А. Р. Лупини, М. Ф. Чизолм, Р. Ф. Хаглунд и С. Т. Пантелидес, «Исследование плазмонов в трех измерениях путем комбинирования дополнительных спектроскопий в сканирующем просвечивающем электронном микроскопе», на рассмотрении Adv. Опт. Матер.

[16] X. Шен, Т.Дж. Пенникук, Д. Эрнандес-Мартин, А. Перес, М. Варела, Ю.С. Пузырев, К. Леон, З. Сефриуи, Дж. Сантамария и С.Т. Пантелидес, «Высокое соотношение включения / выключения. мемристивное переключение бислоя манганит-купрат межфазным магнтоэлектричеством », на обзоре Adv.Матер. Интерф.

[15] S. Yu, J. Hachtel, M. Chisholm, ST Pantelides, L. Laromaine и A. Roig, «Магнитные золотые нанотреугольники с помощью микроволнового синтеза полиолов», Nanoscale, 7, 14039-14046, (2015 ).

[16] Г. Дуан, Дж. Хатчел, X. Шен, E.X. Чжан, С.Х. Чжан, Б. Таттл, Д. Флитвуд, Р. Шримпф, Р. Рид, Дж. Франко, Д. Линтен, Дж. Митард, Л. Виттерс, Н. Колларт, М. Чизхолм и С. Т. Пантелидес, » Энергии активации для генерации заряда оксидов и ловушек на границе раздела из-за температурного напряжения отрицательного смещения SiGe-pMOSFET с крышками SiGe », IEEE Trans.на Dev. и мат. Rel., 15, 352-358, (2015).

[18] Г. Бармпарис, Ю. Пузырев, X.-G. Чжан, С. Т. Пантелидес, «Теория неупругого многофононного рассеяния и захвата носителей на дефектах в полупроводниках: приложение к сечениям захвата», PRB, 92, 214111, (2015).

[19] J. Pan, S. Du, Y. Zhang, L. Pan, Y. Zhang, H.-J. Гао, С. Т. Пантелидес, «Ферромагнетизм и идеальная спиновая фильтрация в графиновых нанолентах, легированных переходными металлами», PRB, 92, 205429, (2015).

[20] Б.Таттл, С. Альхассан и С. Т. Пантелидес, «Большие экситонные эффекты в монослоях сульфидов IV группы», PRB, 92, 235405, (2015).

[21] К. Леон, М. Фречеро, М. Роччи, Г. Санчес-Сантолино, А. Кумар, Х. Салафранка, Р. Шмидт, М. Диас-Гильен, О. Дура, А. Ривера-Кальсада, Р. Мишра, С. Джесси, С. Калинин, М. Варела, С. Пенникук, Дж. Сантамария и С. Т. Пантелидес, «Прокладывая путь к наноионике: атомное происхождение барьеров для ионного транспорта через интерфейсы», Scientific Reports, 5 , 17229, (2015).

2014

[1] Дж. Ли, З. К. Янг, В. Чжоу, С. Дж. Пенникук, С. Т. Пантелидес, М. Ф. Чизхолм, «Стабилизация нанопор графена», PNAS, 111, 7522-7526 (2014).

[2] Ю.-М. Ким, А. Морозовская, Э. Елисеев, М. П. Оксли, Р. Мишра, С. М. Сельбах, Т. Гранде, С. Т. Пантелидес, С. В. Калинин, А. Ю. Борисевич, “Прямое наблюдение эффекта сегнетоэлектрического поля и экранирование, контролируемое вакансиями на BiFeO3 / Интерфейс LaxSr1-xMnO3 ”, Nature Mat., 13, 1019-1025 (2014).

[3] Дж. Х. Лин, О. Крету, В. Чжоу, К. Суэнага, Д. Прасай, К. И. Болотин, Н. Т. Куонг, М. Отани, С. Окада, А. Р. Лупини, Дж. К. Идробо, Д. Кодель, А. Бургер , NJ Ghimire, JQ Yan, DG Mandrus, SJ Pennycook, ST Pantelides, «Гибкие металлические нанопроволоки с самоадаптирующимися контактами с полупроводниковыми монослоями дихалькогенидов переходных металлов», Nature Nanotech., 9, 436-442, (2014).

[4] Н. Бишкуп, Дж. Салафранка, В. Мехта, М. П. Оксли, Ю. Сузуки, С. Дж. Пенникук, С.Т. Пантелидес и М. Варела, “Изолирующие ферромагнитные пленки LaCoO3-δ: фаза, вызванная упорядочением кислородных вакансий”, Phys. Rev. Lett. 112, 087202 (2014).

[5] Р. Исикава, Р. Мишра, А. Р. Лупини, С. Д. Финдли, Т. Танигучи, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук, «Прямое наблюдение диффузии атомов примеси в объемном кристалле полупроводника, усиленной несоответствием большого размера» Phys. Rev. Lett., 113, 155501 (2014).

[6] Ю. Дж. Гонг, З. Лю, А. Р. Лупини, Г. Ши, Дж. Х. Лин, С.Наджмаи, З. Лин, А.Л. Элиас, А. Беркдемир, Г. Ю, Х. Терронес, М. Терронес, Р. Вайтаи, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук, Дж. Лу, В. Чжоу, П. М. Аджаян, «Инженерия запрещенной зоны и послойное картирование дисульфида молибдена, легированного селеном », Nano Lett., 14, 442-449 (2014).

[7] X. Lu, MIB Utama, JH Lin, X. Gong, J. Zhang, YY Zhao, ST Pantelides, JX Wang, ZL Dong, Z. Liu, W. Zhou, QH Xiong, «Синтез на большой площади. однослойных и многослойных пленок MoSe2 на подложках SiO2 ”, Nano Lett., 14, 2419-2425 (2014).

[8] Р. Мишра, Ю.М. Ким, Дж. Салафранка, С.К. Ким, С.Х. Чанг, А. Бхаттачарья, Д.Д. Фонг, С.Дж. Пенникук, С.Т. Пантелидес, А.Ю. Борисевич, «Полярное поведение, вызванное кислородными вакансиями в (LaFeO3) ( 2) Сверхрешетки (SrFeO3) ”, Nano Lett., 14, 2694-2701 (2014).

[9] FJ Nelson, JC Idrobo, JD Fite, ZL Miskovic, SJ Pennycook, ST Pantelides, JU Lee, AC Diebold, «Электронные возбуждения в графене в диапазоне 1-50 эВ: пики пи и пи плюс сигма не являются плазмоны ”, Nano Lett., 14, 3827-3831, (2014).

[10] JD Ren, HM Guo, JB Pan, YY Zhang, X. Wu, HG Luo, SX Du, ST Pantelides, HJ Gao, «Кондо-эффект адатомов кобальта на монослое графена, контролируемый рябью, вызванной подложкой», Nano Lett. 14, 4011-4015, (2014).

[11] К. Аппаву, Б. Ван, Н. Ф. Брэди, М. Сео, Дж. Наг, Р. П. Прасанкумар, Д. Хилтон, С. Т. Пантелидес, Р. Ф. Хаглунд, младший, «Сверхбыстрый фазовый переход через катастрофический коллапс фононов, вызванный горячими плазмонами. -электронная инжекция ”, Нано.Lett., 14, 1127-1133 (2014).

[12] Ю. Пузырев, С. Мукерджи, Дж. Чен, Т. Рой, М. Сильвестри, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд, Дж. Сингх, Дж. М. Хинкли, А. Пакканелла, С. Т. Пантелидес, «Зависимость дефекта от смещения ворот. деградация горячих носителей в GaN HEMTs », IEEE Trans. Электронные разработки, 61, 1316-1320 (2014).

[13] К. Х. Варник, Б. Ван, С. Т. Пантелидес, “Динамика водорода и стабилизация металлической фазы в VO2”, Appl. Phys. Lett., 104, 101913 (2014).

[14] Л.Цецерис, Б. Ван, С. Т. Пантелидес, “Замещающее легирование графена: роль углеродных дивакансий”, Phys. Ред. Б., 89, 035411 (2014).

[15] Y. Xu, X. Zhu, HD Lee, C. Xu, SM Shubeita, AC Ahyi, Y. Sharma, JR Williams, W. Lu, S. Ceesay, BR Tuttle, A. Wan, ST Pantelides, T. Gustafsson, EL Garfunkel, LC Feldman, «Атомное состояние и характеристика азота на границе SiC / SiO2» J. Appl. Физ., 115, 033502 (2014).

[16] Л. Цецерис, С.Т. Пантелидес, «Графен — непроницаемая или избирательно проницаемая мембрана для атомарных частиц?», Carbon, 67, 58-63 (2014).

[17] А. Р. Клоц, A.K.M. Newaz, B. Wang, D. Prasai, H. Krzyzanowska, J.H. Лин, Д. Кодель, Н.Дж. Гимире, Дж. Ян, Б.Л. Иванов, К.А. Велижанин, А. Бургер, Д.Г. Мандрус, Н.Х. Толк, С.Т. Пантелидес, К.И. Болотин, “Исследование экситонных состояний в взвешенных двумерных полупроводниках методом спектроскопии фототока”, Научные отчеты, 4, 6608, (2014).

[18] Z.К. Ян, Л. К. Инь, Дж. Ли, В. К. Рен, Х. М. Ченг, H.Q. Е, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук, М. Ф. Чисхолм, «Прямое наблюдение атомной динамики и легирования кремния на топологическом дефекте графема», Angewandte Chemie-International Edition 53, 8908-8912, (2014).

[19] MP Oxley, MD Kapetanakis, MP Prange, M. Varela, SJ Pennycook, ST Pantelides, «Моделирование тонкой структуры потерь энергии электронов в зависимости от положения зонда» Microscopy and Microanalysis, 20, 784-797, (2014) .

[20] Д. М. Флитвуд, Э. Х. Чжан, X. Шен, К. X. Чжан, Р. Д. Шримпф, С. Т. Пантелидес, «Неустойчивость температур смещения в устройствах МОП из карбида кремния», под редакцией Т. Грассера (Springer, Вена, 2014).

[21] GX Duan, CX Zhang, EX Zhang, J. Hachtel, DM Fleetwood, RD Schrimpf, RA Reed, ML Alles, ST Pantelides, G. Bersuker, CD Young, «Зависимость от смещения общих эффектов ионизирующей дозы в SiGe-MOS. FinFETs », IEEE Trans. Nucl. Sci., 61, 2834-2838, (2014).

[22] CX Zhang, AKM Newaz, B. Wang, EX Zhang, GX Duan, DM Fleetwood, ML Alles, RD Schrimpf, KI Bolotin, ST Pantelides, «Воздействие электрического напряжения и общей ионизирующей дозы на транзисторы MoS», IEEE Trans . Nucl. Sci., 61, 2862-2867, (2014).

[23] CX Zhang, B. Wang, GX Duan, EX Zhang, DM Fleetwood, ML Alles, RD Schrimpf, AP Rooney, E. Khestanova, G. Auton, RV Gorbachev, SJ Haigh, ST Pantelides, «Общая ионизирующая доза. Воздействие на устройства с инкапсулированным h-BN графеном », IEEE Trans.Nucl. Sci., 61, 2868-2873, (2014).

2013

[1] Дж. Чен, Ю.С. Пузырев, С.Х. Чжан, Э.С. Чжан, М.В. Маккарди, Д.М. Флитвуд, Р.Д. Шримпф, С.Т. Пантелидес, С.В. Каун, Э.Ч. Кайл и Дж.С. Спек, «Протонно-индуцированное дегидрирование дефектов в AlGaN / GaN. HEMTs, Ieee Transactions on Nuclear Science, vol. 60, pp. 4080-4086, декабрь 2013 г.

[2] Дж. Х. Лин, В. Д. Хе, С. Вилаюрганапати, С. Дж. Пепперник, Б.Ван, С. Палепу, М. Ремек, В. П. Хесс, А. Б. Хмело, С. Т. Пантелидес и Дж. Х. Дикерсон, «Рост твердых и полых золотых частиц посредством термического отжига наноразмерных тонких пленок», Acs Applied Materials & Interfaces, т. 5, pp. 11590-11596, ноябрь 2013 г.

[3] Б. Ван, Ю. С. Пузырев, С. Т. Пантелидес, «Усиленные химические реакции кислорода на границах зерен в поликристаллическом графене», Polyhedron, vol. 64, стр. 158-162, ноябрь 2013 г.

[4] Р. Мишра, В. Чжоу, С. Дж. Пенникук, С. Т. Пантелидес и Дж. К. Идробо, «Дальнее ферромагнитное упорядочение в двумерных дихалькогенидах, допированных марганцем», Physical Review B, vol. 88, октябрь 2013 г.

[5] Б. Р. Таттл, Т. Айхингер, П. М. Ленахан и С. Т. Пантелидес, «Теория сверхтонких активных азотных комплексов, наблюдаемых в 4H-SiC диодах», Journal of Applied Physics, vol. 114, сен 2013.

[6] X. Shen, Y.С. Пузырев, С. Т. Пантелидес, «Дыхание вакансий границами зерен — механизм мемристивного переключения в поликристаллических оксидах», Mrs Communications, vol. 3, стр. 167-170, сентябрь 2013 г.

[7] Х. Дж. Конли, Б. Ван, Дж. И. Циглер, Р. Ф. Хаглунд, С. Т. Пантелидес и К. И. Болотин, «Зонная инженерия деформированного монослоя и двухслойного MoS2», Nano Letters, vol. 13, pp. 3626-3630, август 2013 г.

[8] X. Шен, Б. Р. Таттл и С. Т. Пантелидес, «Конкурирующие атомные и молекулярные механизмы термического окисления — SiC по сравнению с Si», Journal of Applied Physics, vol.114, июл 2013.

[9] Ф. М. Стил, Б. Р. Таттл, Х. Шен и С. Т. Пантелидес, «Влияние деформации на электрические свойства карбида кремния», Journal of Applied Physics, vol. 114, июл 2013.

[10] Дж. Х. Лин, В. Дж. Фанг, В. Чжоу, А. Р. Лупини, Дж. К. Идробо, Дж. Конг, С. Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, «Границы стекирования AC / AB в двухслойном графене», Nano Letters, vol. 13, стр. 3262-3268, июль 2013 г.

[11] С. X.Чжан, X. Шен, Э.С. Чжан, Д.М. Флитвуд, Р.Д. Шримпф, С.А. Фрэнсис, Т. Рой, С. Дхар, С.Х. Рю и С.Т. Пантелидес, «Температурная зависимость и реакция пострадиационного отжига 1 / f-шума 4H-SiC. МОП-транзисторы », Ieee Transactions on Electron Devices, vol. 60, pp. 2361-2367, июль 2013 г.

[12] Дж. Ли, У. Чжоу, С. Дж. Пенникук, Дж. К. Идробо и С. Т. Пантелидес, «Прямая визуализация обратимой динамики в кластере Si-6, внедренном в пору графена», Nature Communications, vol.4, апрель 2013 г.

[13] Б. Р. Таттл, X. Шен и С. Т. Пантелидес, «Теория тушения ловушек вблизи интерфейса примесями в устройствах на основе SiC металл-оксид-полупроводник», Applied Physics Letters, vol. 102, март 2013 г.

[14] К. Х. Варник, Б. Ван, Д. Э. Сиффель, Д. В. Райт, Р. Ф. Хаглунд и С. Т. Пантелидес, «Реакции при комнатной температуре для самоочищающихся молекулярных нанодатчиков», Nano Letters, vol. 13, стр. 798-802, февраль 2013 г.

[15] X.Шен и С. Т. Пантелидес, «Атомно-масштабный механизм эффективного выделения водорода на электродах из нанокристаллов SiC», Journal of Physical Chemistry Letters, vol. 4, стр. 100-104, январь 2013 г.

[16] З. Джаррахи, Я. Х. Цао, Т. Хонг, Ю. С. Пузырев, Б. Ван, Дж. Х. Лин, А. Х. Хаффстаттер, С. Т. Пантелидес, Ю. К. Сюй, «Улучшенный фотоотклик в скрученных графеновых лентах», Nanoscale, vol. 5. С. 12206-12211, 2013.

.

[17] Б. Ван, Л. Цецерис, С.Т. Пантелидес, «Введение азота с контролируемой конфигурацией в графен через вакансии и края», Journal of Materials Chemistry A, vol. 1. С. 14927-14934, 2013.

.

[18] С. Т. Пантелидес, «Роль расширенных дефектов в деградации устройства», Physica Status Solidi a-Applications and Materials Science, vol. 210, стр. 175–180, январь 2013 г.

[19] К. X. Чжан, Э. X. Чжан, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Дхар, С. Х. Рю, X.Шен и С. Т. Пантелидес, «Истоки низкочастотного шума и интерфейсные ловушки в полевых МОП-транзисторах с 4H-SiC», Ieee Electron Device Letters, vol. 34, стр. 117–119, январь 2013 г.

2012

  1. П. Ю, В. Ло, Д. Йи, Дж. Х. Чжан, доктор медицины Росселл, К. Х. Ян, Л. Ю, Г. Сингх-Бхалла, С. Ю. Ян, К. Хе, К. М. Рамасс, Р. Эрни, Л. В. Мартин, Ю. Х. Чу, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук и Р. Рамеш, «Интерфейсное управление объемной поляризацией сегнетоэлектрика», Proc. Natl.Акад. Sci. США 109, 9710-9715 (2012).
  2. У. Чжоу, Дж. Ли, Дж. Нанда, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук и Дж. К. Идробо, «Атомно-локализованное усиление плазмонов в монослойном графене», Nature Nanotech. 7, 161–165 (2012).
  3. Ю. М. Ким, Дж. Хе, М. Д. Бегальский, Х. Амбае, В. Лаутер, Х. М. Кристен, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук, С. В. Калинин, А. Ю. Борисевич, «Исследование концентрации и однородности кислородных вакансий в твердотельном катоде топливных элементов. материалы на субъединично-клеточном уровне », Nature Mater.11, 888-894 (2012).
  4. А. К. М. Неваз, Ю. С. Пузырев, Б. Ван, С. Т. Пантелидес, К. Болотин, «Исследование механизмов рассеяния заряда в взвешенном графене путем изменения его диэлектрического окружения», Nature Commun. 3, 734 (2012).
  5. J. Seidel, W. Luo, SJ Suresha, PK Nguyen, AS Lee, SY Kim, CH Yang, SJ Pennyccok, ST Pantelides, JF Scott, и R. Ramesh, «Выдающийся электрохромизм через плавление вакансий в сложном оксиде. ”, Nature Comm. 3, 799 (2012).
  6. X. Чжан и С. Т. Пантелидес, «Теория токов с ограничением заряда», Phys. Rev. Lett. 108, 266602 (2012).
  7. М. Д. Росселл, Р. Эми, М. П. Прнадж, Дж. К. Идробо, В. Луо, Р. Дж. Зечес, С. Т. Пантелидес и Р. Рамеш, «Атомная структура сильно окрашенных тонких пленок BiFeO3», Phys. Rev. Lett. 108, 047601 (2012).
  8. Р. Ф. Кли, К. Цяо, Т. Паулаускас, А. Гулек, А. Ребола, С. Огут, М. П. Прнаге, Дж. К. Идробо, С. Т. Пантлейдес, С. Колесник, Б. Дабровски, М. Оздемир, К.Бойраз, Д. Мазумдар и А. Гупта, «Наблюдения Co4 + в более высоком спиновом состоянии и увеличение термоэлектрического коэффициента Зеебека Ca 3 Co 4 0 9 », Phys. Rev. Lett. 108, 196601 (2012).
  9. W. Zhou, M. D. Kapetanakis, M. P. Prange, S. T. Pantelides, S. J. Pennycook, J.-C. Идробо, “Прямое определение химической связи отдельных примесей в графене”, Phys. Rev. Lett. 109, 206803, (2012).
  10. M. P. Prange, M. P. Oxley, SM.Варела, С. Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, “Моделирование структуры ближнего края с пространственно-разрешенной потерей энергии электронов для сканирующей просвечивающей электронной микроскопии”, Phys. Rev. Lett., 109, 246101 (2012).
  11. К. Аппаву, Д. Ю. Лей, Ю. Зоннефро, Б. Ван, С. Т. Пантелидес, С. А. Майер и Р. Ф. Хаглунд, «Роль дефектов в фазовом переходе наночастиц VO2, обнаруженных с помощью спектроскопии плазмонного резонанса», Nano Lett. 12, 780-786 (2012).
  12. Х. Салафранка, Х. Газкес, Н. Перес, А.Лабарта, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук, X. Батл и М. Варела, «Органические молекулы поверхностно-активных веществ восстанавливают магнетизм на поверхностях наночастиц оксидов металлов», Nano Lett. 12, 2499-2503 (2012).
  13. Т. Дж. Пенникук, Дж. Р. Макбрайд, С. Дж. Розенталь, С. Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, «Динамические флуктуации ультрамалых нанокристаллов вызывают излучение белого света», Nano Lett. 12, 3038-3042 (2012).
  14. Дж. Ли, С. Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, «Одновременное повышение электронной и ионной проводимости Li + в LiFePO».Прил. Phys. Lett. 101, 033901 (2012).
  15. E. X. Zhang, A. K. M. Newaz, B. Wang, C. X. Zhang, D. M. Fleetwood, K. Bolotin, R. D. Schrimpf, S. T. Pantelides, M. L. Alles, «Воздействие озона на транзисторы графен-на-SiO2», Appl. Phys. Lett. 101, 121601 (2012).
  16. Л. Цецерис, С. Т. Пантлейдес, “Молекулярное легирование графена аммониевыми группами”, Phys. Ред. B, 85, 155446 (2012).
  17. С. Бубин, Б. Ван, С. Т. Пантелидес, К. Варга, “Моделирование столкновений ионов высоких энергий с фрагментами графена”, Phys.Ред. B 85, ​​235435 (2012).
  18. Б. Ван, С. Т. Пантелидес, “Магнитный момент одиночной вакансии в графене и полупроводниковых нанолентах”, Phys. Ред. B 86, 165438 (2012).
  19. А.Ю. Борисевич, А.Р. Лупини, Дж. Хе, Е.А. Елисеев, А.Н. Морозовская, Г.С. Свечников, П.Ю., Ю.Х. Чу, Р. Рамеш, С.Т. Пантелидес, С.В. Калинин, С.Дж. Пенникук, «Интерфейсный диполь между двумя оксидами металлов, вызванный локализованные кислородные вакансии ”, Физ. Ред. B 86, 140102 (2012).
  20. Э.X. Zhang, C.X. Zhang, D. M. Fleetwood, R. D. Schrimpf, S. Dhar, S. H. Ryu, X. Shen, и S. T. Pantleides, «Неустойчивость температуры смещения в 4H-SiC металл-оксидно-полупроводниковых конденсаторах», IEEE Trans. Dev. и матер. Надежный. 12, 391-398 (2012).
  21. Н. Л. Роуси, М. Е. Лоу, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд, Б. Р. Таттл и С. Т. Пантелидес, «Радиационно-индуцированный заряд оксида в средах с низким и высоким содержанием H 2 », IEEE Trans. на Nucl. Sci. 59, 755-759 (2012).
  22. В. Рамачандран, Р.А. Рид, Р. Д. Шримпф, Д. МакМорроу, Дж. Д. Боос, М. П. Кинг, Э. С. Чжан, Г. Визкелети, X. Шен и С. Т. Пантелидес, «Чувствительность к переходным процессам InAlSb / InAs / AlGaSb с высокой подвижностью электронов», IEEE Trans. на Nucl. Sci. 59, 2691-2696 (2012).
  23. Пузырев Ю.С., Ван Б., Чжан Э. Х., Чжан К. Х., А. К.М. Newaz, К. И. Болотин, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф и С. Т. Пантелидес, «Поверхностные реакции и образование дефектов в облученных графеновых устройствах», IEEE Trans. на Nucl.Sci. 59, 3039-3044 (2012).
  24. Н. Л. Роуси, М. Е. Лоу, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд, Б. Р. Таттл и С. Т. Пантелидес, «Механизмы разделения зависящих от времени и истинных эффектов мощности дозы в облученных биполярных оксидах», IEEE Trans. на Nucl. Sci. 59, 3069-3076 (2012).
  25. Д. Р. Хугарт, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд, Н. Л. Роузи, М. Э. Лоу, Б. Р. Таттл и С. Т. Пантелидес, «Влияние протон-дефектных взаимодействий на радиационно-индуцированное образование ловушек на границе раздела и отжиг», IEEE Trans.на Nucl. Sci. 59, 3087-3092 (2012).
  26. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Поглощение водорода графеном и зарождение графена», Journal of Mat. Sci. 47, (специальный выпуск), 7571-7579 (2012).
  27. YK Sharma, AC Ahyi, T. Isaacs-Smith, X. Shen, ST Pantelides, X. Zhu, LC Feldman, J. Rozen и JR Williams, «Фосфорная пассивация границы раздела SiO2 / 4H-SiC», Solid- State Electron. 68, 103-107 (2012).
  28. С. Т. Пантелидес, Ю. Пузырев, X. Шен, Т. Рой, С.ДасГупта, Б. Р. Таттл, Д. М. Флитвуд и Р. Д. Шримпф, «Надежность устройств III-V: дефекты, вызывающие проблемы», Microelectron. Англ. 90, 3-8 (2012).
  29. W. D. He, J. H. Lin, B. Wang, S. Q. Tuo, S. T. Pantelides, J. H. Dickerson, “Аналитическое выражение для ван-дер-ваальсова взаимодействия при росте с ориентированным присоединением: сферическая наночастица и растущий цилиндрический наностержень”, Phys. Chem. Chem. Phys. 14, 4548-4553 (2012).
  30. С. Т. Пантелидес, Ю. Пузырев, Л.Цецерис и Б. Ван, «Дефекты и легирование и их роль в функциональном анализе графена», Бюллетень MRS 37, 1187 (2012).

2011

  1. J. W. Lee, W. Zhou, J. C. Idrobo, S. Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, “Распределение вакантных анизотропных дефектов в материале батареи-катода LiFePO (4)”, Phys. Rev. Lett. 107 (2011).
  2. Дж. Газкес, В. Д. Луо, М. П. Оксли, М. Прейндж, М. А. Ториджа, М. Шарма, К. Лейтон, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук и М.Варела, “Построение изображений сверхрешеток спинового состояния в наноразмерных карманах в тонких пленках кобальтита с атомным разрешением”, Nano Lett. 11, 973-976 (2011).
  3. X. Шен и С. Т. Пантелидес, «Выявление основной причины эндемически плохой подвижности в структурах SiC / SiO (2)», Appl. Phys. Lett. 98, 053507 (2011).
  4. X. A. Шен, E. X. Чжан, C. X. Чжан, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Дхар, С. Х. Рю и С. Т. Пантелидес, «Причины нестабильности температуры смещения в структурах SiC-SiO (2) на атомном уровне», Appl.Phys. Lett. 98, 063507 (2011).
  5. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Формирование графеновых нанолент путем распаковки углеродных нанотрубок под действием водорода», Appl. Phys. Lett. 99, 143119 (2011).
  6. Б. Ван и С. Т. Пантелидес, «Управляемое залечивание дефектов и легирование графена азотом молекулами CO и NO», Phys. Ред. B 83, 245403 (2011).
  7. L. Tsetseris, S. T. Pantelides, “Межмолекулярные мостики и ловушки носителей в дефектных кристаллах C (60)”, Phys. Ред.В 84, 195202 (2011).
  8. BR Tuttle, S. Dhar, SH Ryu, X. Zhu, JR Williams, LC Feldman, and ST Pantelides, «Высокая подвижность электронов за счет ионов натрия в оксиде затвора полевых транзисторов SiC-металл-оксид-полупроводник» , Jour. Прил. Phys. 109, 023702 (2011).
  9. Ю.С. Пузырев, Т. Рой, М. Бек, Б. Р. Таттл, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд и С. Т. Пантелидес, «Дегидрирование дефектов и деградация горячими электронами в GaN-транзисторах с высокой подвижностью электронов», Jour.Прил. Phys. 109, 034501 (2011).
  10. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Образование дефектов и гистерэктическое смещение между трубками в многостенных углеродных нанотрубках», Carbon 49, 581-586 (2011).
  11. Б. Ван, Ю. С. Пузырев и С. Т. Пантелидес, «Повышенная деформацией реакционная способность дефектов на границах зерен в поликристаллическом графене», Carbon 49, 3983-3988 (2011).
  12. Т. Рой, Ю. С. Пузырев, Э. X. Чжан, С. Дас Гупта, С. А. Фрэнсис, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, У. К. Мишра, Дж.С. Спек и С. Т. Пантелидес, «1 / f-шум в GaN HEMT, выращенных в условиях, богатых Ga, N и NH (3)», Microelectr. Надежность 51, 212-216 (2011).
  13. S. DasGupta, X. Shen, R. D. Schrimpf, R.A. Reed, S.T. Пантелидес, Д. М. Флитвуд, Дж. И. Бергман и Б. Брар, «Деградация в InAs-AlSb HEMT под воздействием напряжения горячего носителя», IEEE Trans. Электронные устройства 58, 1499-1507 (2011).
  14. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Гистерезис, связанный с дефектами в наноэлектромеханических системах на основе нанотрубок», Nanoscale Research Lett.6, 245 (2011).
  15. Э. Голиас, Л. Цецерис, А. Димулас и С. Т. Пантелидес, “Продукты улетучивания Ge в диэлектриках с затвором high-k”, Microelectron. Engin. 88, 427-430 (2011).
  16. Л. Цецерис, С. Т. Пантелидес, «Образование и аннигиляция дефектов на границах раздела Ge-GeO (2)», Микроэлектроника. Engineering 88, 395-398 (2011).
  17. Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд, М. Л. Аллес, Р. А. Г. Луковски, С. Т. Пантелидес, “Радиационные эффекты в новых материалах для наноустройств (приглашены)”, Микроэлектрон.Engineering 88, 1259-1264 (2011).
  18. Б. Ван, Д. Райт, Д. Клиффель, Р. Хаглунд и С. Т. Пантелидес, «Разложение 2,4,6-тринитротолуола (TNT) с усилением ионизации», Journ. Phys. Chem. 115, 8142-8146 (2011).
  19. TJ Pennycook, MP Oxley, J. Garcia-Barriocanal, FY Bruno, C. Leon, J Santamaria, ST Pantelides, M. Varela, SJ Pennycook, «Наблюдение кислородного расстройства в гетероструктурах с колоссальными ионными проводниками YSZ / SrTiO (3) с использованием EELS », European Physical Journal — Applied Physics 54, 33507 (2011).
  20. Цзя-Ань Ян, Дж. А. Дрисколл, Б. К. Вятт, К. Варга и С. Т. Пантелидес, «Моделирование дифракции электронов в кристаллах во временной области» Phys. Ред. B, (2011).

2010

  1. Ондрей Криванек, Мэтью Ф. Чисхолм, Валерия Николози, Т.Дж. Пенникук, Джордж Дж. Корбин, Никлас Деллби, Мэтью Ф. Мерфитт, Кристофер С. Оун, Золтан С. Силаги, Марк П. Оксли, С.Т. Пантелидес и Стивен Дж. Пенникук, «Поатомный структурный и химический анализ с помощью кольцевой электронной микроскопии в темном поле», Nature 464, 571-574 (2010).
  2. Тимоти Дж. Пенникук, Мэтью Дж. Бек, Калман Варга, Мария Варела, Стивен Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, «Происхождение колоссальной ионной проводимости в оксидных многослойных слоях: беспорядок подрешетки, индуцированный границей раздела», Phys. Rev. Lett. 104, 115901 (2010).
  3. J. He, A. Borisevich, S. V. Kalinin, S. J. Pennycool, S. T. Pantelides, “Управление октаэдрическими наклонами и магнитными свойствами гетероструктур оксида перовскита симметрией подложки”, Phys. Rev. Lett. 105, 227203 (2010).
  4. М. Ф. Чисолм, В. Д. Луо, М. П. Оксли, С. Т. Пантелидес и Х. Н. Ли. «Явления компенсации атомного масштаба на полярных поверхностях», Phys. Rev. Lett. 105, 197602 (2010).
  5. Н. Цзян, штат Нью-Йорк. Ю. Чжан, К. Лю, З. Х. Ченг, З. Т. Дэн, С. X. Ду, Х. –Дж. Гао, М. Дж. Бек и С. Т. Пантелидес, “Управление диффузией в системах молекула-металл с помощью электрических полей”, Nano Lett. 10, 1184-1188 (2010).
  6. Н. Цзян, Ю. Ю. Чжан, К. Лю, З. Х. Ченг, З. Т. Дэн, С. X. Ду, Х. Дж. Гао, М.Дж. Бек и С. Т. Пантелидес, «Контроль диффузности в системах молекула-металл с помощью электрических полей», Nano Lett. 10, 1184-1188 (2010).
  7. Т. Рой, Ю.С. Пузырев, Б.Р. Таттл, Д.М. Флитвуд, Р.Д. Шримпф, Д.Ф. Браун, УК Мишра и С.Т. Пантлейдес, «Деградация под действием электрического напряжения в транзисторах с высокой подвижностью электронов AlGaN / GaN, выращенных в богатых галлием азотистых условиях. богатые и богатые аммиаком условия », Прил. Phys. Lett. 96, 133503 (2010).
  8. Ю.С. Пузырев, Б.Р. Таттл, Р.Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд и С. Т. Пантелидес, «Теория явлений, вызванных горячими носителями заряда в GaN-транзисторах с высокой подвижностью электронов», Appl. Phys. Lett. 96, 053505 (2010).
  9. Л. Цецерис, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф и С. Т. Пантелидес, «Взаимодействие водород-допант в SiGe и напряженном Si», Appl. Phys. Lett. 96, 251905 (2010).
  10. X. A. Шен, E. X. Чжан, C. X. Чжан, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Дхар, С. Х. Рю, С. Т. Пантелидес, «Причины нестабильности температуры смещения в структурах SiC-SiO 2 в атомном масштабе», Appl.Phys. Lett. 98, 063507 (2010).
  11. J. Qi, J. A. Yan, JH. Park, A. Steigerwald, Y. Xu, S. N. Gilbert, X. Liu, J. K. Furdyna, S. T. Pantelides, N. Tolk, «Механические и электронные свойства ферромагнетика Ga1-xMnxAs с использованием сверхбыстрых когерентных акустических фононов», Phys. Ред. B 81, 115208 (2010).
  12. W. Walkosz, RF Klie, S. Ogut, B. Mikijelj, SJ Pennycook, ST Pantelides и JC Idrobo, «Кристаллические эффекты на границах раздела кристалл / аморфное вещество: случай для Si 3 N 4 / SiO 2 ”, Phys.Ред. B 82, 081412 (2010).
  13. Дж. К. Идробо и С. Т. Пантелидес, «Происхождение объемного оптического отклика в наночастицах благородных металлов Ag и Au», Phys. Ред. B 82, 085420 (2010).
  14. L. Tsetseris, S. T. Pantelides, «Кислород и связанные с водой примеси в SiGe и напряженном Si», Phys. Ред. B 82, 045201 (2010).
  15. J. Qi, JA Yan, H. Park, A. Steigerwald, Y. Xu, SN Gilbert, X. Liu, JK Furdyna, ST Pantelides, N. Tolk, «Механические и электронные свойства ферромагнитного Ga 1-xMnxAs с использованием сверхбыстрые когернетические акустические фононы ”, Физ.Ред. B 81, 115208 (2010).
  16. T. J. Pennycook, G. Hadjisavvas, J. C. Idrobo, P. C. Kelires, S. T. Pantelides, «Оптические щели свободных и встроенных нанокластеров Si: расчеты теории функционала плотности», Phys. Ред. B 82, 125310 (2010).
  17. X. Шен, С. Дасгупта, Р. А. Рид, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд и С. Т. Пантелидес, «Восстанавливаемая деградация в транзисторах INA / AlSb с высокой подвижностью электронов: роль горячих носителей и метастабильных дефектов в AlSb», J. Appl. . Phys. 108, 114505 (2010).
  18. X. Шен, М. П. Оксли, Ю. С. Пузырев, Б. Р. Таттл, Г. Душер и С. Т. Пантелидес, «Избыточный углерод в карбиде кремния», J. Appl. Физика 108, 123705 (2010).
  19. Ю. С. Пузырев, Т. Той, М. Бек, Б. Р. Таттл, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд и С. Т. Пантелидес, «Дегидрирование дефектов и деградация горячими электронами в высокоэлектронных высокоподвижных GaN-транзисторах», J. Appl. Phys. 109, 034501, (2010).
  20. Б. Р. Таттл, Д. Р. Хугарт, Р. Д. Шримпф, Р. Д. Шримпф, Д.М. Флитуд и С. Т. Пантелидес, «Дефектные взаимодействия H-2 в SiO 2 : последствия для ELDRS и накопления ловушек на латентном интерфейсе», IEEE Trans. Nucl. Sci. 57, 3046-3053 (2010).
  21. Т. Рой, Э. X. Чжан, Ю. С. Пузырев, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, Б. К. Чой, А. Б. Хмело и С. Т. Пантелидес, “Зависимость процесса индуцированной проронами деградации в GaN HEMTs”, Ieee Trans. Nucl. Sci. 57, 3060-3065 (2010).
  22. С. Т. Пантелидес, Л. Цецерис, М. Дж. Бек, С. Н. Рашкеев, Г.Хаджисавас, И.Г. Батырев, Б.Р. Таттл, А.Г. Маринопулос, XJ Чжоу, Д.М. Флитвуд и Р.Д. Шримпф, «Проблемы производительности, надежности, радиационных эффектов и старения в микроэлектронике: от физики атомного масштаба до моделирования на инженерном уровне», Solid State Electron . 54, 841-848 (2010).
  23. Л. Цецерис, С. Логотетидис и С. Т. Пантелидес, “Механизмы диффузии примесей в нитридах переходных металлов на атомном уровне”, Surf. И покрытия техн. 204, 2089-2094 (2010).

2009

  1. Дж.Тао, Д. Небиескиквиат, М. Варела, В. Луо, М. А. Скофилд, Ю. Чжу, М. Б. Саламон, Дж. М. Зуо, С. Т. Пантелидес и С. Дж. Пенникук, «Прямая визуализация наноразмерного фазового разделения в La0,55Ca0,45MnO3: связь с колоссальное магнитосопротивление ”, Физ. Rev. Lett. 103, 097202 (2009).
  2. X. Чжан и С. Т. Пантелидес, «Экранирование нанопроволок и наноконтактов: автоэлектронная эмиссия, сила адгезии и контактное сопротивление», Nano Lett. 9. 4306-4310 (2009).
  3. С. Л. Тейч-МакГолдрик, М.Ballenger, M. Caussanel, L. Tsetseris, S. T. Pantelides, S. C. Glotzer, R. D. Schrimpf, «Конструктивные соображения для нанотетраподов CdTe как электронных устройств», Nano Lett. 9, 3683-3688 (2009).
  4. О. Д. Рестрепо, К. Варга, С. Т. Пантелдис, «Расчет подвижностей электронов в кремнии на основе первых принципов: финонное и кулоновское рассеяние», Прикл. Phys. Письма 94, 212103 (2009).
  5. L. Tsetseris, S. Logotheteidis и S. T. Pantelides, «Миграция видов в прототипе диффузионного барьера: Cu, O и H в TiN», Appl.Phys. Lett. 94, 161903 (2009).
  6. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Морфология и дефектные свойства интерфейса Ge-GeO 2 », Appl. Phys. Lett. 95, 262107 (2009).
  7. JC Idrobo, MP Oxley, W. Walkosz, RF Klie, S. Ogut, B. Mikijelj, SJ Pennycook, и ST Pantelides, «Идентификация и расположение в решетке примесей кислорода в альфа-Si 3 N 4 », Прил. Phys. Lett. 95, 164101 (2009).
  8. М. Варела, М. П. Оксли, В. Луо, Дж.Тао, М. Ватанабэ, А. Р. Лупини, С. Т. Пантелидес J. Pennycook, “Построение изображений состояний окисления в манганитах с атомным разрешением”, Phys. Ред. B 79, 085117 (2009).
  9. Б. Р. Туттл и С. Т. Пантелидес, «Дефекты, связанные с вакансиями и E-дельта (‘) центр в аморфном диоксиде кремния: расчеты функционала плотности », Phys. Ред. B 79, 115208 (2009).
  10. Дж. К. Идробо, А. Халабика, Р. Х. Магрудер, Р. Ф. Хаглунд. Jr. ’S. J. Pennycook и S. T. Pantelides,» Универсальный оптический отклик связей Si-Si и его эволюция от наночастиц до объемных кристаллов «, Phys.Ред. B 79, 125322 (2009).
  11. М. Дж. Бек и С. Т. Пантелидес, «Причины преимущественного распыления в a-SiO 2 во время ионно-лучевого синтеза нанокристаллов», Phys. Ред. B 79, 033203 (2009).
  12. W. D. Luo. М. Варела, Дж. Тао, С. Дж. Пенникук и С. Т. Пантелидес, «Электронные эффекты и эффекты кристаллического поля в тонкой структуре электронных спектров потери энергии манганитов», Phys. Ред. B79, 052405 (2009).
  13. J. Q. Lu, X. G. Zhang и S. T. Pantelides, “Стоячие спиновые волны, возбуждаемые оптически через непрямой промежуток в коротких графеновых нанолентах”, Phys.Ред. B (2009 г.).
  14. А. Халабика, С. Т. Пантелидес, Р. Ф. Хаглунд, Р. Х. Магрудер, А. Мелдрам, “Возбуждение и обнаружение поверхностных акустических фоно-мод в мультислоях Au / Al 2 O 3 ”, Phys. Ред. B 80 (2009 г.).
  15. Р. Арора, Дж. Розен, Д. М. Флитвуд, К. Ф. Галлоуэй, К. Х. Чжан, Дж. С. Хан, С. Димитриев, Ф. Конг, Л. К. Фельдман, С. Т. Пантелидес и Р. Д. Шримпф, «Свойства улавливания заряда 3-канального 4H-SiC. МОП-конденсаторы с азотированными оксидами затвора », IEEE Tans.Nucl. Sci. 56, 3185-3191 (2009).
  16. М. Дж. Бек, Ю. С. Пузырев, Н. Сергеев, К. Варга, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд и С. Т. Пантелидес, «Роль атомных смещений в ионно-индуцированном пробое диэлектрика», IEEE Trans. Nucl. Sci.56, 3210-3217, Часть 1 (2009).
  17. DR Hughart, RD Schrimpf, DM Fleetwood, XJ Chen, HJ Barnaby, KE Holbert, RL Pease, DG Platteter, BR Tuttle и ST Pantelides, «Влияние старения и водорода на радиационный отклик закрытых боковых биполярных PNP транзисторов» , IEEE Trans.Nucl. Sci. 3361-3366, часть 1 (2009).
  18. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Образование и аннигиляция дефектов адсорбатом на графене и однослойных углеродных нанотрубках», J. Phys. Chem. В 113, 941-944 (2009).
  19. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Адатомовые комплексы и механизмы самовосстановления на графене и одностенных углеродных нанотрубках», Carbon 47, 901-908 (2009).
  20. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Модификация электронных свойств кристаллов рубрена водой и кислородсодержащими частицами», Org.Электрон. 10, 333-340 (2009).
  21. Л. Цецерис и С. Т. Пантелидес, «Первые принципы исследования органических электронных материалов», Eur. Phys. J. Appl. Phys. 46, 12511 (2009).
  22. SJPennycook, MF Chisholm, AR Lupini, M. Varela, AY Borisevich, MP Oxley, WD Luo, K. van Benthem, S.-H Oh, DL Sales, SI Molina, J. Garcia-Barriocanal, C. Leon, Дж. Сантамария, С.Н. Рашкеев и С.Т. Пантелидес, «Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия с коррекцией аберраций: от атомной визуализации и анализа до проблем распределения энергии», Phil.Пер. Royal Soc. A-Math. Phys. и англ. Sci. 367, 3709-3733 (2009).

2008

  1. Р. Хэтчер, М. Бек, А. Тэкетт и С. Т. Пантелидес, “Динамические эффекты при взаимодействии ионных пучков с твердыми телами”, Phys. Rev. Lett. 100, 103201 (2008).
  2. И. Г. Батырев, Б. Таттл, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, Л. Цецерис, С. Т. Пантелидес, “Реакции молекул воды в сетчатых стеклах на основе кремнезема”, Phys. Rev. Lett. 100, 105503 (2008).
  3. Б.Р. Таттл и С. Т. Пантелидес, комментируют «Теорию уровней дефектов и« проблему запрещенной зоны »в кремнии», Phys. Rev. Lett. 101, 089701 (2008).
  4. М. Дж. Бек, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд, С. Т. Пантелидес, “Эффекты беспорядка-рекристаллизации при взаимодействии пучка с твердым телом при низких энергиях”, Phys. Rev. Lett., 100, 185502 (2008).
  5. Луо В., Пенникук С. Дж. И Пантелидес С. Т. «Магнитный« мертвый »слой на поверхности сложного оксида», Phys. Rev. Lett., 101, 247204 (2008).
  6. Дж.Розен, Дж. Дхар, С. К. Диксит, В. В. Афанасьев, Ф. О. Робертс, Х. Л. Данг, С. Ван, С. Т. Пантелидес, Дж. Р. Уильямс и Л. К. Фельдман, «Увеличение плотности захвата оксидных дырок, связанное с включением азота на SiO 2. / SiC интерфейс », J. Appl. Phys. 103, 124513 (2008).
  7. С. Х. О, К. ван Бентем, С. И. Молина, А. Ю. Борисевич, В. Луо, П. Вернер, Н. Д. Захаров, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук, “Конфигурации точечных дефектов пересыщенных атомов Au внутри нанопроволок Si”, Nano Lett.8, 1016-1019 (2008).
  8. А. Г. Маринопулос, К. ван Бентем, С. Н. Рашкеев, С. Дж. Пенникук, С. Т. Пантелидес, «Сегрегация и упорядочение примесей в структурах Si-SiO2-HfO 2 », Phys. Ред. B 77 , 195317 (2008).
  9. Л. Цецерис, С. Т. Пантелидес, “Большие примесные эффекты в кристаллах рубрена: расчеты из первых принципов”, Phys. Ред. B 78, 115205 (2008).
  10. L. Tsetseris, N. Kalfagiannis, S. Logothetidis и S. T. Pantelides, «Улавливание и высвобождение примесей в TiN: исследование из первых принципов», Phys.Ред. B 78, 094111 (2008).
  11. К. Г. Робертс, М. Варела, С. Рашкеев, С. Т. Пантелидес, С. Дж. Пенникук и К. М. Кришнан, “Опосредованный дефектами ферромагнетизм в изолирующих тонких пленках анатаза TiO 2 , легированных кобальтом”, Phys. Ред. B 78, 014409 (2008).
  12. А. Халабика, Дж. К. Идробо, С. Т. Пантелидес, Р. Х. Магрудер, С. Дж. Пенникук, Р. Ф. Хаглинд, «Импульсный инфракрасный лазерный отжиг наночастиц золота, встроенных в матрицу Si», Journ. Прил. Phys., 103, 083545 (2008).
  13. Л.Цецерис, Н. Калфагианнис, С. Логотетидис и С. Т. Пантелидес, “Структура и взаимодействие точечных дефектов в нитридах переходных металлов”, Phys. Ред. B 76, 224107 (2008).
  14. Р. Д. Шримпф, К. М. Уоррен, Д. Р. Болл, Р. А. Веллер, Р. А. Рид, Д. М. Флитвуд, Л. В. Массенгилл, М. Х. Менденхолл, С. Н. Рашкев, С. Т. Пантелидес и М. А. Аллес, «Мультимасштабное моделирование радиационных эффектов в электронных устройствах», IEEE Trans . Nucl. Sci. 55, 1891-1092 (2008).
  15. Батырев И.Г., Батырев Д.М. Флитвод, Р. Д. Шримпф и С. Т. Пантелидес, «Роль воды в радиационном отклике влажных и сухих оксидов», IEEE Trans. Nucl. Sci. 55, 2085-2089 (2008).
  16. М. Дж. Бек, Р. Хэтчер, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд и С. Т. Пантелидес, «Квантово-механическое описание образования повреждений смещения», IEEE Trans. Nucl. Sci. 54, 1906-1912 (2008).
  17. Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Т. Пантелидес, Р. Л. Пиз и Г. В. Данэм, «Захват электронов, выделение водорода и усиленное ухудшение усиления в линейных биполярных устройствах», IEEE Trans.Nucl. Science 55, 2986-2991 (2008).
  18. М. Дж. Бек, Б. Р. Таттл, Р. Д. Шримпф, Д. М. Флитвуд и С. Т. Пантелидес, «Эффекты смещения атомов при однократном разрыве промежутка», IEEE Tans. Nucl. Sci. 55, 3025-3031 (2008).
  19. XJ Chen, HJ Barnaby, B. Vertneire, KE Holbert, D. Wright, RL Pease, RD Schrimpf, DM Fleetwood, ST Pantelides, MR Shaneyfelt и P. Adell, «Механизмы отжига после облучения дефектов, возникающих в гидрогенизированных биполярных системах. оксиды », IEEE Trans.Nucl. Sci. 55, 3032-3038 (2008).
  20. И. Г. Батырев, Д. Хугарт, Р. Дюран, М. Бунассер, Б. Р. Таттл, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Н. Рашкеев, Г. В. Данхэм, М. Е. Лоу и С. Т. Пантелидес, «Влияние водорода на радиационный отклик биполярных транзисторов: эксперимент и моделирование », IEEE Trans. Nucl. Sci. 55, 3039-3045 (2008).
  21. Дж. Р. Шванк, М. Р. Шейнифельт, А. Дасгуота, С. А. Фрэнсис, Х. Дж. Чжоу, Д. М. Флитвуд, Р. Д. Шримпф, С. Т. Пантелидес, Дж. А. Феликс, П.Э. Додд, В. Ферле-Кавруа, П. Пайе, С.М.Дальтон, С.Е. Суонсон., Г.Л. Хэш, С.М. Торнберг., Дж. М. Хохрейн и Г.К. Лум, «Влияние влаги и воздействия водорода на радиационно-индуцированную деградацию МОП-устройств и его значение для длительного старения », IEEE Trans. Nucl. Sci. 55, 3206-3215 (2008).
  22. L. Tsetseris, X. J. Zhou, D. M. Fleetwod, R. D. Schrimpf, S. T. Pantelides, «Связанные с водородом нестабильности в MOS-устройствах при температурном напряжении смещения», IEEE Trans. Dev. Мат. Надежный.7, 502-508 (2008).
  23. С. Дж. Пенникук, К. ван Бентем, М. П. Оксли, С. Н. Рашкеев и С. Т. Пантелидес, «От трехмерной визуализации атомов до свойств макроскопических устройств», Microsc. и Микроанал. 13, 82-83 (2008).
  24. М. Варела, М. П. Оксли, К. Г. Робертс, Дж. Гарсия-Барриоканал, А. Р. Лупини, С. Н. Рашкеев, К. Леон, К. М. Кришнан, Дж. Сантамария, С. Т. Пантелидес и С. Дж. Пенникук, «Спектроскопическое изображение границ раздела оксидов с исправленными аберрациями. зонды », Microsc. и Микроанал.13, 142-143 (2008).
  25. S. T. Pantelides, Z.-Y. Лу, К. Никло, Т. Бакос и С. Н. Рашкеев, «Центр E’ и кислородные вакансии в SiO 2 », J. Non-Cryst. Solids, 354, 217-223 (2008).

Производство чувствительных газовых сенсоров с использованием наночастиц CuO / SnO2

Морфология и состав полученных наночастиц представлены на рис. 1. СЭМ-изображения демонстрируют получение наночастиц, которые образуют более крупные агломераты.На изображениях видно, что размеры наночастиц CuO и SnO 2 составляют 10,0 ± 3,3 нм и 16,2 ± 5,4 нм соответственно. Измерения состава EDS, показанные на рис. 1, подтверждают образование наночастиц как CuO, так и SnO 2 .

Рис.1

СЭМ-изображения полученных наночастиц CuO: a CuO и b SnO 2 . EDS измерения состава наночастиц: c CuO и d SnO 2

На рис. 2 показан рентгеновский анализ порошка CuO и SnO 2 .Результаты XRD подтверждают образование наночастиц CuO 2 и SnO 2 моноклинной и тетрагональной структур соответственно. Эталонная карта, используемая для наночастиц CuO — ICSD-87126, а для наночастиц SnO 2 — ICSD-160667. Индексы Миллера идентифицируются в соответствии с приведенными выше структурами и указаны на рисунках. Уравнение Шеррера можно использовать для оценки размера наночастиц (\ (D \)) из измерений XRD и представить как [14, 15]:

Рис. 2

XRD полученных a CuO и b SnO 2 наночастиц с индексами Миллера, указанными на рисунках

$$ D = \ frac {k \ lambda} {\ beta \ cos \ theta}.$

Здесь \ (k \) установлено равным 0,95, и это безразмерная константа, которая присваивается структуре наночастиц, λ = 1,5406 Å, и это длина волны пика излучения XRD (Cu — \ ({K} _ { \ alpha} \)), \ (\ beta \) определяется как полная ширина на половине максимума пика XRD, а \ (\ theta \) — угол Брэгга. Расчеты размеров производятся с использованием пиков XRD (11-1) и (110) для наночастиц CuO и SnO 2 соответственно. Размер наночастиц CuO оценивается в 7.9 нм, а размер наночастиц SnO 2 оценивается в 18,8 нм. Эти значения согласуются с результатами, полученными из изображений SEM в пределах полос погрешностей. Кроме того, следует отметить, что наночастицы демонстрируют распределение по размерам и образуют агломераты, которые вызывают отклонения в оценке фактического размера.

Тонкие пленки наночастиц испытывают при следующих соотношениях CuO: SnO 2 : 1: 0, 0,75: 0,25, 0,5: 0,5, 0,25: 0,75 и 0: 1. Фотографии произведенных пленок представлены на рис.3. Каждая пленка проверяется на перенос электрического заряда внутри тефлоновой камеры, где наверху пленки помещается держатель, содержащий пару параллельных медных электродов. Испытательная камера и принципиальная схема электрической измерительной схемы показаны на рис. 3.

Рис. 3

Принципиальная схема электрической измерительной схемы и фотографии образцов CuO, SnO 2 и испытательной камеры из тефлона

На рисунке 4a показаны результаты измерений I ( V ) для пленки CuO в зависимости от температуры.На рисунке видна небольшая нелинейность в диапазоне измеряемых напряжений и отрицательный температурный коэффициент сопротивления. Зависимость сопротивления от температуры показана на рис. 4б. Сопротивление рассчитывается с использованием линейной области при низком напряжении (1 В). Рисунок подтверждает отрицательный температурный коэффициент сопротивления. Кроме того, это демонстрирует, что сопротивление прямо пропорционально процентному содержанию SnO 2 в образце. Нелинейность может быть вызвана разными причинами, например барьерами Шоттки между металлическими контактами и полупроводниковыми материалами [9].Отрицательный температурный коэффициент сопротивления наблюдался ранее для различных перколяционных сеток наночастиц [8, 16, 17]. Кроме того, результаты показывают, что в сопротивлениях датчиков преобладает SnO 2 , что согласуется с опубликованными значениями удельного сопротивления: ρ CuO = 18 Ом · м [18] и ρ SnO2 ~ 85 Ом · м [19 ] при комнатной температуре.

Рис.4

a I ( V ) как функция температуры для образца CuO: SnO 2 с соотношением 1: 0. b Зависимость электрического сопротивления изготовленных сенсоров от температуры от соотношений CuO: SnO 2

Изготовленные датчики прошли испытания на чувствительность к газам H 2 и H 2 S. Тесты на реакцию на газ проводили путем подачи фиксированного напряжения смещения на электроды датчика и измерения изменения сигнала тока во время воздействия газа, см. Рис. 3. Образец результатов отклика датчика CuO относительно газа H 2 , измеренный при 140 ° C представлен на рис.5а. На рисунке показано, что когда датчик подвергается воздействию газа H 2 , электрический ток увеличивается на величину, пропорциональную концентрации H 2 . Как только подача газа H 2 прекращается и камера «промывается» воздухом, электрический ток возвращается к своему базовому значению. Кроме того, текущий сигнал имеет тенденцию к насыщению при высоких концентрациях H 2 .

Рис. 5

a Сигнал электрического тока для различных H 2 концентраций газа сенсора CuO при 140 ° C, измеренных при 1 В.Чувствительность изготовленных сенсоров к газу H 2 в зависимости от температуры и состава образца с соотношением CuO: SnO 2 : b 1: 0, c 0,75: 0,25, d 0,5: 0,5 , e 0,25: 0,75 и f 0: 1

Газовую реакцию датчика можно выразить как \ (S = \ left | \ frac {{I} _ {\ text {gas}} — {I} _ {\ text {ref}}} {{I} _ {\ text {ref}}} \ right | = \ frac {\ left | \ Delta I \ right |} {{I} _ {\ text {ref}}} \). Здесь \ ({I} _ {\ text {gas}} \) — это текущий сигнал, в то время как целевой газ присутствует в испытательной камере, а \ ({I} _ {\ text {ref}} \) — это базовый текущий сигнал, т.е.е. только воздухом. На рис. 5b – f представлены результаты реакции на газообразный водород для изготовленных сенсоров с соотношением CuO: SnO 2 1: 0, 0,75: 0,25, 0,5: 0,5, 0,25: 0,75 и 0: 1. Цифры показывают, что произведенные датчики чувствительны к минимальной концентрации H 2 , равной 600 ppm. Кроме того, ответ увеличивается с концентрацией H 2 . Датчики, содержащие наночастицы CuO, показывают отклик при 100 ° C и 140 ° C, в то время как датчик с чистыми наночастицами SnO 2 функционирует только при 140 ° C.Ни один из датчиков не показывает никакого отклика при 25 ° C. Это указывает на более высокое сродство CuO к H 2 (по сравнению с SnO 2 ) при более низких температурах.

На рис. 6a – e показан газовый отклик для H 2 S изготовленных сенсоров с соотношением CuO: SnO 2 1: 0, 0,75: 0,25, 0,5: 0,5, 0,25: 0,75 и 0: 1. Рисунки демонстрируют минимальную чувствительность сенсоров 10 ppm и увеличение отклика при концентрации H 2 S. Следовательно, эти датчики избирательны к H 2 S по сравнению с H 2 .Сравнение минимальной чувствительности ранее заявленных сенсоров, а также коммерческих сенсоров представлено в таблице 1. Реакция настоящих сенсоров на H 2 S улучшена или, по крайней мере, сопоставима с заявленными значениями аналогичной системы наночастиц [20 , 21] и лучше по функциональности при комнатной температуре [22]. Все датчики работают при трех температурах измерения (за исключением соотношения CuO: SnO 2 0,25: 0,75). При низких концентрациях газа отклики всех сенсоров примерно одинаковы, в то время как при высоких концентрациях наблюдаются разные отклики.Для сенсора с соотношением CuO: SnO 2 1: 0 отклик практически идентичен независимо от температуры измерения. Для сенсоров с соотношением CuO: SnO 2 0,75: 0,25 и 0,5: 0,5 отклик выше при комнатной температуре по сравнению с откликом при высоких температурах. Тем не менее, для датчиков с большей частью SnO 2 (отношения CuO: SnO 2 0,25: 0,75 и 0: 1) чувствительность увеличивается с температурой.

Рис.6

Отклик изготовленных сенсоров на газ H 2 S в зависимости от температуры и состава образца с соотношением CuO: SnO 2 : a 1: 0, b 0.75: 0,25, c 0,5: 0,5, d 0,25: 0,75 и e 0: 1

Таблица 1 Полученная реакция сенсора на H 2 S gas

Время отклика датчика определяется как время, необходимое для того, чтобы отклик датчика покрыл 90% от его максимального значения. Значения времени отклика для H 2 и H 2 S показаны в таблице 2. Каждое из представленных значений представляет собой средний отклик датчика для различных концентраций газа при разных температурах, а ошибка — это стандартное отклонение.Из таблицы видно, что время отклика датчиков на H 2 ниже, чем на H 2 S. Кроме того, время отклика на H 2 датчиков с большей частью SnO 2 выше, чем у других (~ double), в то время как время отклика на H 2 S всех датчиков практически постоянно (вариации в пределах погрешности). Представленные ей значения времени отклика сопоставимы с данными из литературы для датчиков на основе CuO и SnO 2 [9, 17, 23, 24, 25].Более низкое время отклика на газ H 2 , чем на H 2 S, можно отнести к более низкой молекулярной массе H 2 , что обуславливает легкость проникновения и экстракции.

Таблица 2 Время отклика сенсора различного состава на газы H 2 и H 2 S

Функциональность датчиков по отношению к H 2 S при комнатной температуре указывает на их селективность, низкое энергопотребление (~ 1 мкВт для H 2 S при комнатной температуре) и безопасную работу.Повышенный газовый отклик наночастиц, как правило, объясняется их большим отношением поверхности к объему. { -} $$

(1)

Аналогичным образом, реакция H 2 S наночастиц оксидов металлов в основном связана с высокой генерацией носителей заряда из-за адсорбции кислородных специй (включая O и O 2-) на реакционной поверхности. центры наночастиц оксидов металлов [28, 29].{-} $$

(3)

Следовательно, увеличение отклика датчиков при воздействии газа H 2 S можно отнести к увеличению количества свободных электронов в соответствии с уравнениями. 2 и 3. Когда газ H 2 S удаляется, образование свободных электронов прекращается, и датчик «вымывается» из газа H 2 S, таким образом, количество свободных электронов, а также сигнал электрического тока уменьшаются. . Отныне процесс считывания H 2 S является обратимым процессом, который позволяет использовать датчик для нескольких тестов.Здесь следует отметить, что не ожидается, что на характеристики этих датчиков будет влиять влажность окружающей среды, поскольку наночастицы представляют собой оксиды металлов, а H 2 O уже образуется при адсорбции газа (уравнения 1–3) без четкого указания. влияние на работу датчика.

Адсорбция кислорода на чистом SnO 2 Наночастицы высвобождают электроны и образуют обедненный слой вблизи его поверхности. Здесь электронам требуется дополнительная энергия для переноса через сеть наночастиц, поэтому сенсоры SnO 2 лучше всего работают при высоких температурах.

Результаты на рис. 5 и 6 показывают улучшенный отклик композитных датчиков CuO-SnO 2 . Основной вклад в превосходные чувствительные характеристики здесь вносится формированием PN-перехода между CuO и SnO 2 , которые являются материалами P-типа и N-типа соответственно [10, 31]. Поэтому на рис. 6 состав для оптимального образования PN-переходов здесь составляет 0,25: 0,75 для CuO: SnO 2 . Когда наночастицы находятся в воздухе, PN-переходы CuO и SnO 2 образуют барьеры, которые уменьшают перенос электронов через сеть наночастиц, таким образом, электрический ток минимален.Как только PN-переходы подвергаются воздействию H 2 S, газ вступает в реакцию с наночастицами CuO, образуя металлический CuS [32] согласно [10]:

$$ {\ text {CuO}} + {\ text {H}} _ {{2}} {\ text {S}} \ to {\ text {CuS}} + {\ text {H}} _ {{2}} {\ text {O}} $$

(4)

Образование металла CuS устраняет PN-переход. При этом работа выхода CuS, очевидно, меньше, чем у SnO 2 [33], таким образом, зона изгибается в низкоэнергетическую область, которая является барьером между PN-переходами CuO – SnO 2 .Следовательно, электроны могут свободно перемещаться через переходы, что значительно увеличивает электрический ток по сравнению с током в присутствии только воздуха. Когда переход подвергается воздействию воздуха, CuS снова окисляется до CuO, реформируя переходы CuO – SnO 2 . Кроме того, CuS преобразуется в Cu 2 S при высоких температурах, превышающих 103 ° C, который демонстрирует более низкую проводимость, чем CuS [32]. Следовательно, переходы CuO – SnO 2 проявляют низкую чувствительность к H 2 S при высоких температурах, что демонстрирует рис.6б, в. Поскольку каждый датчик содержит много переходов CuO – SnO 2 , настоящие датчики демонстрируют повышенную чувствительность по сравнению с их объемным эквивалентом.

Зонная структура между CuO – SnO 2 и электронным интерфейсом может быть использована для объяснения улучшенных чувствительных свойств по отношению к газу H 2 S. Зонная структура между CuO – SnO 2 представлена ​​на рис. 7 [34]. SnO 2 изгибается вверх на границе раздела из-за увеличения его работы выхода, а также образования слоя пространственных зарядов из обедненных электронов.Как только переход CuO – SnO 2 подвергается воздействию газа H 2 S, образуется металлический CuS, который приводит к разрушению перехода, таким образом, зонная структура SnO 2 возвращается в свое чистое состояние.

Рис. 7

Принципиальная схема зонной структуры PN-перехода между CuO – SnO 2

Критический переход, зависящий от размера в источнике излучения света наночастицами Si-SiO2 ядро-оболочка

Происхождение светового излучения из систем нанокремния, таких как наночастицы кристаллического кремния (Si-NP), является предметом интенсивных дискуссий, и, казалось бы, противоречащие литературные результаты указывают на различные механизмы.Здесь выясняется происхождение фотолюминесценции (ФЛ) от наночастиц Si – SiO 2 различного размера, синтезированных промышленно масштабируемым высокопроизводительным методом нетепловой силановой плазмы. Обнаружено, что обычно наблюдаемая ФЛ от этих Si-НЧ возникает, как правило, из двух процессов: рекомбинации внутри кремниевого ядра наночастиц и рекомбинации внутри оксидной оболочки. Энергии фотонов обоих излучений увеличиваются с уменьшением размера наночастиц.Важно отметить, что установлена ​​зависимость относительного вклада двух процессов в общую ФЛ от размера наночастиц. Для больших (малых) Si-НЧ в люминесценции преобладает излучение ядра (оксидной оболочки). Интересно, что переход между этими двумя предельными режимами происходит в чрезвычайно узком диапазоне размеров наночастиц (∼0,5 нм). Этот критический переход в сочетании с близкими энергиями фотонов двух эмиссионных компонентов ответственен за обычное наблюдение только одной неструктурированной полосы ФЛ для Si-НП и, казалось бы, противоречивые предположения о происхождении этой люминесценции, найденные в литературе. для явно похожих Si-NP.

У вас есть доступ к этой статье

Подождите, пока мы загрузим ваш контент… Что-то пошло не так. Попробуйте снова? .
alexxlab

*

*

Top